SoC总线串扰的精简MT测试集.pdfVIP

第21卷第4期 计算机辅助设计与图形学学报 V01．21，No．4 DESIGN＆COMPUTERGRAPHICS 2009年4月 JOURNAl，OFCOMPUTER—AIDED Apr．，2009 SoC总线串扰的精简MT测试集 张 颖h孔3’ 李华伟h2¨ 李晓维h2’ 胡 瑜h” l’(中国科学院计算机系统结构重点实验室 北京 100190) 2’(中国科学院计算技术研究所北京 100190) 3’(中国科学院研究生院北京100049) (zhangyin8r@ict．ae．cn) 摘 要 多跳变(MT)故障模型是一种有效的总线串扰故障模型，可以测试由电容和电感导致的串扰故障，但是MT 的原始测试集存在严重的向量冗余．通过分析MT原始测试集向量冗余的3类情况，利用欧拉网路对测试向量进行 组合优化，得到MT精简测试集，同时不损失MT故障覆盖率；还设计了MT故障模型的软件自测试程序来实施MT 精简测试集，用于实速在线检测串扰故障，而不需要使用高速测试仪．实验结果表明，采用MT精简测试集可以有效 地减少总线串扰测试的时间和向量存储开销。 关键词多跳变故障模型；向量冗余；欧托回路；软件自测试 中图法分类号TP303 MT SetforInterconnectCrosstalkonSoC Compacted Yul2’ Huaweil·2’。LiXiaoweil·2’Hu ZhangYin91·2，3’Li andArchitecture，Chinese 100190) ”(KeyLaboratoryofComputerSystem AcademyofSciences，BeOing 2’(Institute 100190) ofComputingTechnology，ChineseAcademyofSciences。Beijing Chinese 100049) ”(GraduateUniversityof AcademyofSciences·Beijing Abstract transition(MT)faultmodeliSaneffectivefaultmodelforboththe Multiple capacitive andinductive inducedfaultsonbus．Butthe testsetbasedonMTfault previously coupling generated modeltendstoberedundant．inthis ofthe red oftheMTtestsetare undancy paper，casespattern andclassifiedintothree isthenusedto MTtest and analyzed types．Eulerloop compact patternsget withoutfault MT MT set for fault optimizedcompacted losingcoverage．Then，aself—t