表面分 析方法在微量物证鉴定中的应用.pdfVIP

2016年lO月 山西警官高等专科学校学报 Oct．，2016 【刑事侦查与技术】 表面分析方法在微量物证鉴定中的应用 口张莉冬 (太原理工大学煤化工研究所，山西太原030024) 摘要：将表面分析技术引入微量物证鉴定领域可以快速有效地得到检材大量的化学信息，通过分析 所得信息可得到被测物的表面的化学成分信息、元素所处状态信息，并可通过半定量分析法得到被测物表面 元素的相对含量信息。 关键词：表面分析；微量物证；x射线光电子能谱 中图分类号：D918．9 文献标识码：A 表面分析技术在材料学、摩擦学、化学等诸多科 据，故采集时间与AEs相比较长。使用Ar离子溅 研领域均有广泛应用，然而在法庭科学领域并未得 射作深度剖析时，溅射的同时采集xPS数据较为困 到广泛应用。本文从微量物证分析的角度，运用表 难。横向分辨率较低，小面积分析时分辨率为50 面分析技术中应用最早、最广泛、最成功的x射线 斗m，在进行微区成像分析时的分辨率为5斗m。 光电子能谱(xPs)分析法进行分析研究。 (二)AES优点：可检测除H、He以外的所有元 素；可进行表面成像；在不同的材料和实验参数的调 一、常用表面分析仪器的技术比较 节下探测深度范围可达l一20个原子层；微区分析能 x射线光电子能谱(xPS)、俄歇电子能谱 力强。虽然在对元素进行快速半定量分析时的精度 (AES)、二次离子质谱(SIMs)是目前使用较普遍的比xPS低，但是在使用Ar离子溅射作深度剖析时可 nm。 表面分析方法¨J。xPS的优势在于可以取得大量的 同时采集AEs数据。横向分辨率可达20 化学信息，同时被测物表面的破坏最小、半定量分析 AES缺点：会常产生电子束诱导损伤；化学位移 速度快；AES的优势在与空间辨识能力强，微区分析 等信息较难解读，化学信息数据库较少。谱峰重叠 效果好，能对表面元素的分布情况进行成像；sIMS几率的比xPS大，导致元素分析时产生诸多不确定 的最大优势是对元素的检测灵敏度很高，可以对 性。 XPs、AES无法分析的H、He元素及同位素进行分(三)sIMs优点：对某些元素极其表面灵敏 析，还可进行有机分析、微区的微量分析。 (一)xPs优点：可检测元素周期表中除H、He 素及同位素进行分析。横向分辨较好可达1蚌m。 以外的所有元素。灵敏度为亚单层；在不同的材料 可在动态模式下进行同步深度剖析。 和实验参数的调节下探测深度范围可达l～20个原 SIMs缺点：内禀的结构破坏性。由于化学、物 子层；可进行元素定量分析，得到优异的化学信息。 理环境的可变性因素导致sIMs离子强度不稳定， x射线束损伤通常微不足道，故分析是非结构破坏 使得应用SIMs进行定量分析较为困难。 的是一种良好的无损检验方法并且可以得到详细的 二、微量物证常用检测项目和仪器选择 电子结构及某些几何信息。 xPs缺点：由于xPS会采集更多的细节信息数 在案件中送检的微量物证包括涂料、塑料、纤 收稿日期：2016一06一10 作者简介：张莉冬(1981一)，男，山西阳泉人，太原理工大学2014级化学工程硕士，刑事技术工程师，工作单位：天 津市津实司法鉴定中心，主要从事文书、痕迹及微量鉴定等司法鉴定工作。 一78— 万方数据 2016年第4期