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莫塞莱定律图解,用于选择X射线特征线 - 复旦大学物理教学实验中心 .PPT

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莫塞莱定律图解,用于选择X射线特征线 - 复旦大学物理教学实验中心

在验证莫塞莱定律的实验中吸收边如何选取? 作者:秦闻 学号:0530124 如果把各元素的特征X射线的频率的平方根对原子序数作标绘,就会得到线性关系。这就是莫塞莱当年得出的规律,称为莫塞莱定律。 产生K系X射线的阈能大于K系X射线本身的能量 拓展 当加速电子具有的能量足以从某靶原子的特定能级上驱逐出一个电子时所需要的最小X光管电压,叫做该元素该能级的激发电位。估算钼靶产生X光K系列特征谱所需要的最小电子加速电压。 以钼为例, 取吸收边理论值,高速电子的能量等于K层被移走一个电子并使其脱离原子的能量. 计算结果即为查资料得到钼的K谱线激发电位理论值为20.02KV. 参考文献: [1] 杨福家. 原子物理学(第三版). 北京:高等教育出版社,1999 [2]杨福家. 原子物理学(第三版). 北京:高等教育出版社,1999 [3] 近代物理实验补充讲义 复旦大学物理教学实验中心 [4]原著:[美]E.P.伯廷 X射线光谱分析的原理和应用国防工业出版社 1983 [5] 特征谱与吸收边限示意图为手绘,原图来自于杨福家. 原子物理学(第三版). 北京:高等教育出版社,1999 [6] [7]表中数据以及图六来自于《X射线光谱分析的原理和应用》 Thank you! * * 各元素的特征X射线能量值(或波长值)各不相同,被用来作为元素的标识,所以又可以称为元素的标识谱。 特征线的波长相当于高层电子填充该能级空位时所释放的能量,谱线的波长必然大于吸收边的波长,谱线的能量必然小于吸收限的能量。 钼靶上打出的X射线发射谱 横坐标为X射线经NaCl晶体的入射角 纵坐标为收集极记录X射线强度 吸收限的波长等价于产生内层轨道空位所吸收的能量,等价于从该能级上移走一个电子并使其脱离原子的能量。 图二为钼吸收片的透射率与X射线能量的关系。Kα和Kβ是钼的标识K系X射线的能量. 69.7 62.9 50.1 45.2 选取右边得到的吸收边/pm 1.16 -1.02 68.2 68 69.0 In(49) 1.45 -1.13 61.3 62.0 62.1 Ag(47) 1.03 -0.82 48.2 48.6 48.7 Mo(42) 1.80 -1.35 43.8 44.4 44.5 Zr(40) 误差/% 误差/% 取选中间时得到吸收边/pm K系吸收边理论值/pm NⅡ/NⅢ跃迁到K层特征谱/pm 跃迁电子的轨道离核越远,其能量越接近逐出电子的能量,所产生的特征谱越接近吸收限。 可以看出用吸收边的数值做吸收片外层的特征谱,数值是非常接近的。而且选取中间比选取接近右边转折 点对应的波长作为吸收边更接近吸收边的理论值. 莫塞莱定律图解,用于选择X射线特征线 莫塞莱定律的图解,横坐标为原子序数,纵坐标为波长的平方根的倒数。四条线分别表示各个元素Kα1,Kβ1,Lα1,Lβ1特征谱与原子序数的关系。 电子轰击出的X射线,早先出现的是能量较小的Kα射线,是靶原子的电子从L层跃迁到K层放出的X光,所以选取探测Kα射线.经NaCl晶体衍射,发射谱中Kα特征谱出现在β=7.2°,可以根据在β=7.2°处是否出现峰值,判断钼靶是否发射特征谱,以此判断钼靶是否产生X光K系列特征波。 在钼的K系激发电位20KV以下,仅能产生连续谱,当电压为20KV时,连续谱上迭加着微弱的钼的K系特征谱线。 元素Mo K能级的激发电位示意图 *

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