室温下球磨粉体中sn 晶须的自发生长 - 燕山大学学报.pdfVIP

卷 期 燕山大学学报 年 月 文章编号：1007-791X (2009) 03-02 11-04 Sn 室温下球磨粉体中 晶须的自发生长 王明智，梁宝岩，韩 欣 （燕山大学 亚稳材料制备技术与科学国家重点实验室，河北 秦皇岛 ） 3Ti/Sn/2C 1 d Sn 摘 要：机械合金化 粉体，会细化晶粒，产生显微应力。在室温下，放置空气中 后，即有少量 晶须出现，长约20 m ；半年后，会形成大量直径约0.3~1 m ，长约100 m 的细晶须，以及直径约1~3 m ，长 1.2 mm Sn 达 的粗晶须。最后，探讨了 晶须的形成与自发生长机制。 Sn 关键词： 晶须；球磨；生长机制 中图分类号：TG146.642 文献标识码：A 引言 球磨机上进行，转速为 ，球磨时间为 。 用 转靶 射线多晶 射仪对合成 由于严禁使用有害物质铅及铅合金，在电子领 的粉末进行物相分析 （采用 靶 辐射）。用场 域元器件安装领域，人们开发了不含 的 基 发射扫描电镜与 型扫描电子显微镜 焊料。但是不含 的 镀层容易产生 晶须， （加速电压： ）观察球磨粉体的形貌。 引起电子设备发生短路故障。为此，对 晶须的 粉体晶粒尺寸用 射线 射仪步进扫描法测 研究摆在了电子工程师们面前。所谓 晶须，是 定，步长 ，以硅粉为标准物测定仪器因素引 指非常细的单晶纤维，具有近乎完美的 晶体结 起的 射峰宽化。半峰宽采用积分半高宽，半高宽 构，可像毛发一样生长。这种晶须的直径通常为 与晶格变形的关系可用 公式表示 ： ，能够达到大约几毫米的长度。 晶须能 够造成机械或者其它电气问题。 通常 晶须是在镀层材料中发现，从普通 粉体中不会自发生长出 晶须。而笔者在研究中， 式中， 为晶粒尺寸 （ ）； 为半高宽 （ ）； 球磨 粉体后，把球磨粉体放置在空气中 为 射角 （）；为 射线波长， 。 定时间后，从球磨粉体中会生长出 晶须。本 为显微应变。 文将探讨从球磨粉体中 晶须产生的原因。 分别以公式 中 和 为横、纵坐标 实验过程 作图可得 条直线，并可由该直线的斜率和截距半 定量地求得晶格应变和晶粒尺寸。 实验所用原料为 粉 （纯度 ，平均 粒度为 ）， 粉 （纯度 ，平均粒度为 结果和讨论 ）， 粉 （纯度 ，平均粒度为 ）。 混合粉