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化学气相沉积4H-SiC同质外延膜的生长及其特征.pdf
第 卷增刊 半 导 体 学 报
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化学气相沉积)5W6J 同质外延膜
的生长及其特征
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高 欣 孙国胜 李晋闽 赵万顺 王 雷 张永兴 曾一平
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,中国科学院半导体研究所 材料中心 北京 ,+++-0
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*兰州大学物理学院 兰州 )0++++
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摘要 采用常压化学气相沉积 方法在偏向 晶向 的 型 面衬底上进行同质外延
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生长 霍尔测试的结果表明 非有意掺杂的外延膜层导电性为 型 测试显示各个样品只在位于 附
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近出现一个谱峰 表明外延膜是 单晶 在低温 谱中 对于在较低温度下外延生长的 样品 在
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范围内出现很宽的谱峰 而在该样品的 谱中 也观察到了典型的 的特征峰 表明该样品含有
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立方相 的混晶$这与 谱获得的结果相吻合
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关键词 碳化硅 化学气相沉积 ]5156 ?
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