uv一辐照聚合物热释光的研究 - 青岛大学.pdfVIP

维普资讯 Vol3 ． N02 第三眷 第二期 青 岛 大 学 学 报 l990年 10月 JournalofQ1nsd0Univcrsir~ o4 ．1990 uV一辐照聚合物热释光的研究 周漪琴 王春 彭智 章吉祥 青 岛大学 摘 要 本 文用 【)x一 7型化学发光分析仪测定了不同聚集态结构，包括 非晶态 ，双轴拉 仲以及不 同结晶度的聚 2， 6萘二甲酸乙二醇酯 (PEN．聚对苯二 甲酸 乙二醇酯 PET， 以殛口一 晶型聚丙烯 (PP)等聚合物经紫外 《UV)辐射后的热释光；考察 了不 同气氟中PEN 的热释光 。指 出 高分子主链上的生色基团受澈后返回基态是发光的主要因素 。通过分析 热释光谱图，作 者认为，热释光 行为不仅能反映聚合物的松弛过程 ．也是研究聚合物陷阱 现象的一种有效手段。 1 引 言 当逐渐升高在低温下经受过辐照的物质 的温度时，有光子释放出来，这种现象称为 热释光 。 早在六十年代，人fj『已发现聚合物有热释光现象：到七十年代，国内外的研究工作 芒要集 中在热释光峰与结构转变温度 的关系方面 【1]。 由 于 测 试精度所 限，工作难 以深 入 。八十年代起，检测极微弱光 的光感强度 已从过去的10 ～10 0W提高到l0-1～ l0—15W ，使研究工作有可能深入到聚合物凝聚态结构与性能的更深层次 。国际上对聚 合物热释电的研究重新活跃起来了[24：。 目前，有关聚合物热释光机理仍在探索中。 本 文 测 定 了 经 紫 外 光 辐照的PEN试样在几种不 同条件下的热释光。指出 ·发 光种与高分子链上的羰基 、萘环等生色团有关：非晶试样 中的物理空洞及晶态结构缺陷 可能提供陷阱捕获发光种。 2- 实 验 部 分 仪器 ：ox一 7 TLA一66 化学发光分析仪 由 日本东北 电子产业株式会 社 制造 ， 由 微机联控，采用同步单一光电子计数方式 。光强感度为10 ～10 w。 收甍 日期 1989．年 10月23日o 维普资讯 三卷二期 uV龋 照聚 台物热释光 的研究 47 激发源 ： UV波长^=365nm。辐照 时问均为 1小时 以上 。 热结晶试样制备： 由桂林 电器科学研究所及常州绝缘材料厂分别提供非晶态 PEN PET厚膜 (350--400~m)。取PEN非晶厚膜在 170。C恒温不 同时间后淬火结 晶，获系列 热结 晶试样 。用密度梯度管法测定了试样密度 ，按下式计算结晶度 ： - Xc-—pAp po) — — — — — pc— p ) 式中 及p分别是该聚合物完全晶态 ，非晶态 以及待测试样的密度0 试样处理 ： 试样一律经退火去热历史，后用试剂处理，严格避光 。 热释光测试过程的升温速率均选 用 3。C／min。 3 结 果 与 讨 论 l 图 1中a、b及c三条曲线分别是非晶PEN PET~