荧光寿命的正弦调制测量法及分析.pdfVIP

第27卷，第12期 光 谱 学 与 光 谱 分 析 Vo1．27，No．12，pp2523—2526 2 0 0 7年1 2月 Spectroscopy and Spectral Analysis December，2007 荧光寿命的正弦调制测量法及分析 冯 颖，黄世华 北京交通大学光电子技术研究所，发光与光信息技术教育部重点实验室，北京 100044 摘 要 设计并制作了光强调制度和频率可调的发光二极管驱动电路，应用这种激励源激发荧光样品 EuzL 3·nHzO(L =C4H 04)，测量了激发光和Eu3 离子的 Do～ F2发射光的波形。实验得到的数据用按 照相位法测量荧光寿命的原理用非线性最小平方曲线拟合，得到Eua 离子激发态 的寿命约为0．680 ms。讨论了光源调制中的高次谐波分量对测量结果的影响以及寿命具有一定分布的多指数衰减体系的测量 和处理方式，提出应用傅里叶级数展开处理数据的修正方法，以扩大相位法测量荧光寿命的适用范围，得到 更准确的荧光寿命值。 关键词 荧光寿命；相移法；高次谐波分量；多指数衰减 中图分类号：0433．1 文献标识码：A 文章编号：1000—0593(2007)12—2523—04 j(f)一 Ioe- (1) 引 言 荧光寿命r是发光强度衰减到初始值Io的1／e时所需的时 间。 荧光寿命是反映物质光物理或光化学过程特性的重要参 一 般，如果一个线性系统在 (f)激发下的响应为K(f)， 数，它的测量是一种重要的光谱技术。通常，测量瞬态过程 那么，这个系统对任意形式的均匀弱激发e(f)的响应F(￡) 需要用持续时间远小于被测过程特征时间的脉冲激发源叫， 可以表示为嘲 根据时间分辨率的不同，采用不同测量技术[2_ ，设备比较 F(f)一}e(t )K(f～f )dt 一e(f)*K(f) (2) 复杂。虽然这些技术用于发光呈单指数形式衰减的样品已经 很多年了，但是比较好的还是相移法[5]。 即F是e和K的卷积。这个关系可以用Laplace变换写为 F(s)一；(s)艮(s) (3) 相移法是利用相位变化测量荧光寿命，不同于脉冲法， 对于(1)式描述的体系， 它要求的仪器相对简单[4]。激发源常采用正弦调制的光源， 频率和调制度在一定范围内可调。样品被激发后发出的荧光 K(f)一e-z／r,艮(s)一 (4) 也是调制光，不过相位和调制度相对于激发光都有了变化。 1．2 由调制度的变化胁和相位差 得到f 测量这些变化，就可以解析出荧光寿命。由于设备相对简 设激发光是正弦调制的 易，现代用于生物技术、物理化学实验等领域的荧光计很多 都是以这种相移法为基础的r6’ 。本文设计制作了一个正弦 )一A『-1+鲁sin(2rift)] (5) 调制的LED光源，用这个光源激励样品，得出荧光寿命。对 调制度 一B／A。对e(f)激发下(4)式描述的体系，由(2)或 这种测量技术中如何处理光源调制的中高次谐波分量的影响 (3)式可