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- 2017-07-13 发布于河南
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思考题 方法学考察内容包括哪几项? 样品提取分离常见的方法有哪些? 色谱法的定量分析方法是怎么操作的? 用于定量分析时需对曲线进行处理: 曲线较直法:岛津CS系列采用该法。该法特点:需知SX值,根据SX值,将Kubelka-Munk曲线校正为直线。 计算机回归法:Camag仪器采用该法。由计算机根据最小二乘法原理对标准品测定值进行相关分析,得到最佳回归方程。不需要SX值。 薄层吸收扫描法 第三节 常用定量分析方法 薄层扫描法 薄层荧光扫描法 第三节 常用定量分析方法 薄层扫描法 基本原理:F=KC 光源:氙灯或汞灯。 灵敏度:最低可测到10 ~ 50 pg。 适用范围:适合于本身具有荧光或经过适当处理后可产生荧光的物质的测定。 Kubelka-Munk理论不适用于薄层荧光扫描,无需进行曲线校直。 考察内容: 标准曲线考察 分离度考察 重复性考察 准确度考察 第三节 常用定量分析方法 薄层扫描法 新建薄层扫描定量方法必须进行方法考察,以说明新建方法的可靠性。 第三节 常用定量分析方法 薄层扫描法 适于用Kubelka-Munk曲线校直法进行定量校准的仪器 ①检查所选择的散射参数SX值是否适宜。SX值适宜则工作曲线被校为直线,否则,调整SX值再校正,直至工作曲线成直线为止。 ②考察工作曲线是否过原点,以确定采用一点法或二点法定
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