电子测量技术（主编田华、刘斌、袁振东 第二版 西安电子科大版）课件：第4章 电子元器件与集成电路测量04.pptVIP

4.3　集成电路的测试 4.3.1　中小规模集成电路的一般测试　　1. 模拟集成电路的测试 　　模拟集成电路是相对于数字逻辑电路的另一大类集成电路，其特点是处理的主要是模拟信号。这类集成电路也包括一些转换器，如光-电信号转换芯片、模拟信号-数字信号转换芯片等。模拟芯片应用场合特别广泛，每个细分的电子领域都有一批芯片，如电源领域的集成稳定器与PWM控制器，滤波领域的有源滤波器，信号传输领域的运算放大器、宽带放大器、调制器等。 　　1) 线性芯片测试 　　线性集成电路在其工作范围内，仅对输入信号作一定比例的放大，不丢失原来的频率分量或产生新的频率分量。运算放大器是最常用的一种线性集成电路芯片。掌握了运算放大器特性的测量原理与方法，也即掌握了一般线性集成电路的测试方法。理想的运算放大器如图4.23所示，具有如下特性：① 输入阻抗Rin=∞；② 输出阻抗Ro=0；③ 电压增益Av= ∞；④ 带宽为∞；⑤ 当Uin－－Uin+=0时，Uo=0。 图4.23　基本的运算放大器电路 　　实际的运算放大器不是理想的。对运算放大器的测试就是对影响其性能的一些关键指标的测试，如输入阻抗、转换速率、开环电压增益等。 　　(1) 运算放大器开环输入阻抗的测量。运算放大器的输入阻抗由两输入端之间和每个输入端与地之间的阻抗组成，如图4.24所示。Rin称为差分输入阻抗，Rc称为共模输入阻抗。当作为反相放大器使用时，同相输入端接地，Rc＞Rin，可以近似认为差分输入阻抗即为其输入阻抗。 图4.24　运算放大器输入阻抗 　　测量运算放大器开环输入阻抗的电路如图4.25所示。为了避免运算放大器在开环状态下由于输入失调电压的影响处于饱和状态，首先调节电位器Rw，使得运算放大器输出直流电压为0±0.1 V，然后调节信号发生器的输出电压Us，使得运算放大器输出交流电压Uo的值在1 V附近，记为Uo1。第二步，将图中两个1 kΩ电阻换成2个Rx，测得运算放大器的输出交流电压为Uo2，从而有 　　(2) 运算放大器开环增益Av的测量。Av的测量仍采用图4.25所示运算放大器输入阻抗的测量电路。因为Av=Uo/Ui，且所以 图4.25　运算放大器开环输入阻抗测量电路 　　(3) 运算放大器转换速率(Sr)的测量。运算放大器能够将正弦信号转化为矩形波，这种大信号工作特性一般用Sr来表征，可以用示波器来测量。具体测量电路如图4.26所示。U(t)为低频(100 Hz)方波，Sr=ΔU/Δt。 图4.26　运算放大器转换速率的测量 　　2) 一般模拟集成芯片的测试 　　(1) 性能指标测量。可以采用与测量运算放大器的特性参数相类似的方法，设计测量一般的模拟集成芯片的电路。主要是根据集成芯片的电气性能、使用条件、输入与输出关系，制作一个测试板，选择合适的激励信号与测量仪器进行测量。图4.27是单片集成锁相环CD4046的测试电路。 图4.27　CD4046性能测试电路 　　测试板上有一个16脚管座，各引脚已按技术要求接好。电源电压VCC=+5 V，振荡电容C1=100 pF，振荡电阻R1=3.3 kΩ，环路滤波电阻R2=100 kΩ，R3=5.1 kΩ，C3=2.2 μF。外接分频器为128分频，方波信号源的频率为100 Hz～20 kHz。测量步骤如下：第一步，在环路开路的情况下改变R1、C1的值，测出CD4046的振荡频率范围；第二步，将环路闭合，调节方波信号源的频率使之从100 Hz至10 kHz变化，测定CD4046输出频率的跟踪范围；第三步，改变环路滤波电路的R2、R3、C3的值，测定锁相环的环路同步的建立时间和保持时间。 　　(2) 集成芯片的在线测试。在调试和维修工作中，常常对已焊接在电子线路板上的集成芯片是否正常产生疑问。这时采用在线测试的方法，可以解决大多数问题。在线测试一般有以下几种方法：　　① 电阻测量法：在不加电的情况下，测量功能引脚对地电阻和一些引脚之间的电阻。 　　② 电压测量法：测量多引脚的直流电压(对地)。 　　③ 信号注入法：从某个引脚注入外部信号，观察芯片的输出状态。与正常芯片的状态进行对照，这是在线测试法的理论核心。 　　用方法①与②测试时，如发现某个引脚的电阻或电压与正常电路该引脚的电阻或电压的差异较大时，再对引脚外围元件加以检查，必要时甚至断开引脚检查，如确认外围无误，则可认定芯片有损。用方法③测试时，对一些集成电路内部分成几部分且相对独立的芯片可以压缩故障范围。以调频信号解调芯片μPC1353为例，该芯片内部有调频/调幅信号转换电路、检波电路和高频功率放大电路。在图4.28所示的电路中，正常时μPC1353各引脚对地电压如表4.5所示。 图4.28　μPC1353应用电路 　　2. 数字集成