集成电路芯片测试仪设计.PDFVIP

技术与应用 Technology Application 摘要：设计制作了一个集成电路芯片测试仪，以 STC90C516RD+ 单片机为核心，12864 液晶显示 器作为显示模块，采用了无线模块与电脑通信。该芯片测试仪能对常用的 74 系列芯片、CD 系列芯 片，以及 LM 系列和 UA741 组合逻辑芯片进行功能测试；能通过 12864 显示芯片的逻辑符号、逻辑 表达式、芯片的功能以及状态转换图；能够将测得的型号通过无线串口发送到 PC 上位机。通过测 试说明本设计制作的集成电路芯片测试仪在芯片检测，电路维修等方面具有重要意义。 关键词：集成电路芯片；单片机；自动识别型号 中图分类号：TN402 文献标识码：A 文章编号：1006-883X(2016)10-0014-04 收稿日期：2016-09-22 集成电路芯片测试仪设计 刘远鹏 胡惟文 湖南文理学院物理与电子科学学院，湖南常德 415000 一、引言 系列时序逻辑芯片的型号，增加了通过SI4463 无线串 产品研发和学生实验过程中，常常需要检测逻 口模块将识别的芯片型号发送到上位机串口助手显示。 在辑芯片的功能以及芯片是否正常[1-2] 。传统依靠 人工检测的方式直接影响芯片的有效回收利用，进而 二、系统结构与原理 影响实验电路的功能能否正确，因此设计一个集成电 本文设计的集成电路芯片测试仪系统结构如图1 路芯片测试仪来显示其型号具有非常重要的实际意义。 所示，主要由主控制平台（STC90C516RD+）、芯片 集成电路芯片较多，难以进行统一处理和检测[3] ，所 接口（20P 锁紧座）、显示器件（12864 液晶）、无线 以给芯片测试仪的实现造成了很大的阻扰，本文采用 通信模块（SI4463 模块）、上位机（PC 串口助手）、 编码检测方式来解决这一问题。 电源接口（DC 插座）等组成。 本文设计了一种集成电路芯片测试仪，采用编码 仪器在检测过程中，通过 STC90C51RD+ 的 检测，即每个芯片都有不同的编码，因此只要能检测 P0.0~0.7 、P2.0~2.7 、P3.6~3.7 这 18 个I/O 口按顺序接 到这些编码就可以识别芯片；该测试仪一共可以测试 41 种不同的集成电路芯片。   20P 锁紧座 系统主要包括两部分功能：第一能够自动地对指 SI4463 12864 定的74LS 系列10 种组合逻辑芯片进行功能测试，确 接收端 液晶 定其功能正确性，测试速度为10k 测试向量/ s ，确 STC90C516RD+ 单片机 定上述74 系列的组合逻辑芯片的型号，显