高级频谱分析技术与时频域联合调试.PDFVIP

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高级频谱分析技术与时频域联合调试

高级频谱分析技术与时频域 联合调试 日程 l 电子设计的发展趋势 l 频域信号分析与高级FFT技术 l 电子电路的时域和频域联合分析 l 产品设计阶段的EMI诊断与预测试 2 现代嵌入式设计的发展趋势 l 无线通信无处不在 l 同一时间包括多种频率信号 l 信号之间存在相互干扰,并且与数字信号在时间上有一定关系 3 嵌入式系统调试要求–时域和频域的综合分析能力 射频嵌入式系统调试 I2C/SPI CLK t Digital I/O DAC Filters i Filters Amp n I2C/SPI DATA U r e RF Tx Out l l o Ref r Processing Control t PLL PLL n Osc PLL o C - o Digital I/O r c i System M Digital I/O System Indicator Indicator l 除进行普通的数字电路分析外,射频嵌入式系统还需要做时间上相互关联的 时域和频域信号分析 l 随着信号频率的增加,系统的EMI问题更加严重,需要在设计和验证中特别 关注 4 示波器—能否成为时域/频域综合分析工具 l 工程师最常用的测试仪器 l

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