160506-粉体工程.pptVIP

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20160506-粉体工程

与 的差别表示颗粒形状对于球形的偏离 体积形状因子 形状系数 k 颗粒形状 2 * 表面形状因子与体积形状因子的比值 比表面积形状系数 3 形状系数 k 颗粒形状 * 一些规则几何体的形状因子 * 颗粒大小和形状表征 粉体特性的表征 * 粉体的平均粒径 01 粒度分布 02 粒度测定 03 * 计算公式: 粉体的平均粒径 * 粉体的平均粒径 计算公式: * 粒度分布 粒度分布依据的统计基准: * 例:以显微镜观察测量粉体的Feret径(测量总数为1000个) * 频度% 粒度 * 频度% 粒度 * 正态分布: (–∞?d?+∞) ——中位径,统计学中的数学期望值 ——标准偏差 * 筛分析法(40μm) 粒度测定 * 国际标准筛制:Tyler(泰勒)标准 单位:目 目数为筛网上1英(25.4mm)寸长度内的网孔数 (a,d单位mm) 25.4 a d 筛分析法(40μm) 粒度测定 * 筛分析法(40μm) 粒度测定 以200目的筛孔尺寸0.074mm为基准, 乘或除 模 (或) ,则得到 标准规则: 得到比200目粗的筛孔尺寸 主模系列: 得到比200目细的筛孔尺寸 * 筛分析法(40μm) 粒度测定 副模系列: 得到比200目粗的筛孔尺寸 得到比200目细的筛孔尺寸 32 / 42 / 48 / 60 / 65 / 80 / 100 / 115 / 150 / 170 / 200 / 270 / 325 / 400 其中最细的是400目,孔径是38μm。 标准筛系列: * 优点 统计量大, 代表性强 便宜 重量分布 下限38微米 人为因素影响大 重复性差 非规则形状粒子误差 速度慢 筛分析法(40μm) 粒度测定 缺点 * 采用定向径方法测量 显微镜 粒度测定 * 光学显微镜:0.25——250μm 电子显微镜:0.001——5μm 显微镜测定粒度要求统计颗粒的总数: 粒度范围宽的粉末———10000以上 粒度范围窄的粉末———1000左右 显微镜 粒度测定 * 优点 缺点 可直接观察粒子形状 可直接观察粒子团聚 光学显微镜便宜 代表性差 重复性差 测量投影面积直径 速度慢 显微镜 粒度测定 * 测量原理 当光入射到颗粒时,会产生衍射, 小颗粒衍射角大,而大颗粒衍射角小, 某一衍射角的光强度与相应粒度的颗粒多少有关。 光衍射法 粒度测定 测量原理示意图 光 颗粒 * 激光衍射 0.05—500μm X光小角衍射 0.002—0.1μm 测量方法 光衍射法 粒度测定 * 激光衍射 光衍射法 粒度测定 激光法粒度仪 用于几个微米以下的测量 米氏(Mie) 衍射理论 夫琅霍夫(Fraunhofer) 衍射理论 颗粒直径远大于入射波长,即用于几个微米至几百微米的测量 目前的 * 激光衍射法原理图 激光器 激光束 透镜 样品池 透镜 衍射光束 未衍射光束 光传感器列阵 中心传感器 粉末 激光衍射 光衍射法 粒度测定 * 测量原理示意图 当一个小颗粒通过小孔时,所产生的电感应,即电压脉冲与颗粒的体积成正比。 测量原理 电传感法 粒度测定 无颗粒时单元的电阻: 有颗粒时单元的电阻: 仪器对脉冲计数并归档 即计算出有关粒度参量 * 在具有一定粘度的粉末悬浊液内, 大小不等的颗粒自由沉降时,其速度是不同的,颗粒越大沉降速度越快。 如果大小不同的颗粒从同一起点高度同时沉降,经过一定距离(时间)后,就能将粉末按粒度差别分开。 沉降法 粒度测定 测量原理 t=0 t=t1 t= t2 t=t3 光吸收率 时间 t1 t2 t3 0 测量原理示意图 * 测量方法 沉降法 粒度测定 自然重力状态下的d~t函数: 重力沉降:10—300μm 离心沉降:0.01—10μm 离心力状态下d~t函数: * 优点 测量重量分布 代表性强 经典理论, 不 同 厂 家仪器结果对比性好 价格比激光衍射法便宜 缺点 对于小粒子测试速度慢, 重复性差 非球型粒子误差大 不适应于混合物料 动态范围比激光衍射法窄 沉降法 粒度测定 * 感谢聆听 2016.05.06 . 粉末的表征与测量 潘婷,毕春鑫,张艳,杨丽珪 龚庆方,王影,张婷月,孙银秋 颗粒 粉体 * 从个体颗粒出发 颗粒 从集合粉体出发 粉体 * 颗粒大小和形状表征 粉体特性的表征 * 材料的机械、物理和化学性质描述了组成材料的物质组态的基本特性, 当物质被“分割”成为粉体之后,上述三类性质则不能全面描述材料的性质 必须对粉体材料的组成单元——颗粒,进行详细描述。颗粒的大小和形状是粉体材料最重要的物性特性表征量。 * 直径D、高度H ? 颗粒的大小 直径D 人为规

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