实验四触发器（一）R—S，D，J—K.DOC

实验四 触发器（一）R—S，D，J—K 一、实验目的 1．熟悉并掌握R—S、D、J—K触发器的构成，工作原理和功能测试方法。 2．学会正确使用触发器集成芯片。 3．了解不同逻辑功能FF相互转换的方法。 二、实验仪器及材料 1．双踪示波器 2．器件 74LS00 二输入端四与非门 1片 74LS74 双D触发器 1片 74S112 双J—K触发器 1片 三、实验内容 1．基本R—SFF功能测试： 两个TTL与非门首尾相接构成的基本R—SFF的电路如图3.1所示。 （1）试按下面的顺序在Sd， Rd端加信号 ： Sd=0 Rd=1 Sd=1 Rd=1 Sd=1 Rd=0 Sd=1 Rd=1 观察并记录FF的Q、Q端的状态，将结果填入下表4.1中. 表4.1 Sd Rd Q Q 逻辑功能 0 1 1 0 1 1 0 0 （2）Sd端接低电平，Rd端加脉冲。 （3）Sd端接高电平，Rd端加脉冲。 （4）令Sd=Rd，Rd端加脉冲。 记录并观察（2）、（3）、（4）三种情况下，Q、Q端的状态。从中你能否总结出基本R—SFF的Q或Q的状态改变和输入端Sd，Rd的关系。 （5）当Sd，Rd都接低电平时，观察Q，Q端的状态。当Sd，Rd同时由低电平跳为高电平时，注意观察Q，Q端的状态，重复3—5次看Q、Q端的状态是否相同，以正确理解“不定”状态的含义。 2、维持——阻塞型D触发器功能测试 双D型正边沿维持——阻塞型触发器74LS74的逻辑符号如图4.2所示。 图中Sd，Rd端为异步置1端，置0端（或称异步置位，复位端）。CP为时钟脉冲端。试按下面步骤做实验： （1）分别在Sd，Rd端加低电平，观察并记录Q，Q端的状态。 （2）令Sd，Rd端为高电平，D端分别接高，低电平，用点动脉冲作为CP，观察并记录当CP为0、↑、1、↓时Q状态的变化。 （3）当Sd=Rd=1、CP=0（或CP=1），改变D端信号，观察Q端的状态是否变化？ （4）令Sd=Rd=1，将D和Q端相连，CP加连续脉冲， 用双踪示波器观察并记录Q相对于CP的波形。 表4.2 Sd Rd CP D Qn Qn+1 0 1 X X 0 1 1 0 X X 0 1 1 1 0 0 1 1 1 1 0 1 3．负边沿J—K触发器功能测试 双J—K负边沿触发器74LS112芯片的逻辑符号如图4.3所示。 自拟实验步骤，测试其功能，并将结果填入表4.3中。 若令J=K=1时，CP端加连续脉冲，用双踪示波器观察Q~CP波形，和DFF的D 和Q端相连时观察到的Q端的波形相比较，有何异同点？ 4．触发器功能转换 （1）将D触发器和J—K触发器转换成T′触发器，列出表达式，画出实验电路图。 （2）接入连续脉冲，观察各触发器CP及Q端波形。 （3）自拟实验数据表并填之。 表4.3 Sd Qd CP J K Qn 0 1 X X X X 1 0 X X X X 1 1 0 X 0 1 1 1 X 0 1 1 1 0 1 1 1 X 1 1 四、实验报告 1．整理实验数据并填表。 2．写出实验内容3、4的实验步骤及表达式。 画出实验4的电路图及相应表格。 总结各类触发器特点。 Q Q Sd 图4.1 基本R—SFF电路 2 1 4 5 3 6 Rd D CP Q Q Sd Rd 图4.2 DFF逻辑符号 Sd Rd J K Q Q 图4.3 J—KFF逻辑符号