第六章__宏观残余应力的测定.ppt

第六章 宏观残余应力的测定 第一节 物体内应力的产生与分类 残余应力是一种内应力，内应力是指产生应力的各种因素不复存在时（如外加载荷去除、加工完成、温度已均匀、相变过程终止等），由于形变、体积变化不均匀而存留在构件内部并自身保持平衡的应力。目前公认的内应力分类方法是1979年由德国的马克劳赫.E提出的，他将内应力按其平衡的范围分为三类： （1）第一类内应力（σ1）：指在物体宏观体积内存在并平衡的内应力。此类应力的释放，会使物体的宏观体积或形状发生变化。又称“宏观应力”或“残余应力”。宏观应力的衍射效应是使衍射线位移。 （2）第二类内应力（ σ2）：指在数个晶粒的范围内存在并平衡的内应力。其衍射效应是引起线形的变化。 （3）第三类内应力（ σ3）：指在若干原子的范围内存在并平衡的应力。如各种晶体缺陷（空位、间隙原子、位错等）周围的应力场。此类应力的存在使衍射线强度降低。 宏观残余应力是一种弹性应力。测量它的方法有很多种，一种是应力松弛法，即用钻孔、开槽或剥层等方法使应力松弛，用电阻应变片测量变形以计算残余应力，这是一种破坏性实验。 另一种是无损法，即利用应力敏感性的方法，如超声、磁性、中子衍射、X射线衍射等。其中X射线衍射法除是无损法之外，还具有快速、准确可靠和能测量小区域应力的优点，又能区分三种不同类别的应力，因而受到普遍的重视。 本章将简单介绍X射线宏观应力测定的基本原理和方法。 第二节 X射线宏观应力测定的基本原理 （一）单轴应力测定原理 （二）平面应力测量原理 1、一般原理 2、sin2Ψ法基本原理 式（6－19）表明，2θΨ随sin2Ψ呈线性关系，式中2θΨ单位为“弧度”，当选用“度”为单位，式（6－19）改写为： 可以认为，某方位面间距dΦΨ相对于无应力时的变化（ dΦΨ－d0）/d= ⊿d/d0，反应了由应力所造成的面法线方向的弹性应变：即εΦΨ = ⊿d/d0。显然，在面间距随方位的变化率与作用应力之间存在一定的函数关系。因此，建立待测残余应力σΦ与空间某方位上的应变εΦΨ之间的关系式是解决应力测量问题的关键。 本节所讨论的是在平面应力状态（或双轴应力状态）假设下的测定。在物体的自由表面，其法线方向的应力为零，当物体内应力沿垂直于表面的方向变化梯度极小，而X射线的穿透深度又很浅（ ≈10μm数量级）时，这种平面应力假设是合理的。为在此条件下推导应力测定公式，需建立如图6－5所示的坐标系。 图中O－XYZ是主应力坐标系，分别代表主应力（σ1，σ2，σ3）和主应变（ε1，ε2，ε3）的方向； O-xyz是待测应力σΦ（σx)及其垂直的σy、 σz的方向，σz与σ3平行，且均平行于试样表面法线ON；Φ是σΦ与σ1的夹角； ON与σΦ构成的平面称“测量方向平面”， εΦΨ是此平面上某方向上的应变，它与ON之间的夹角为Ψ。 根据弹性力学原理，对于一个连续、均质、各向同性的物体来说，任一方向上的应变εΦΨ可表达为： 将式（6－2）代入式（6－1）得： 根据广义胡克定律： 根据6－5所示坐标系，将式（6－6）代入式（6－4）中，得 为了得到对X射线法测定宏观应力更实用的计算公式，还需把式（6－9）中εΦΨ转化为用衍射角表达的形式。根据布拉格方程的微分式：Δd/d=-cotθ0 Δ θ (当Δλ＝0），因为可以认为θ ≈θ0 （无应力时的衍射角）， 式（6－11）表明，2θΦΨ随sin2Ψ呈线性关系，式中2θΦΨ单位为“弧度”，当选用“度”为单位，式（6－11）改写为： 定峰法 （2）抛物线法 当峰形较为漫散时，用半高宽法容易引起较大的误差，则可用抛物线法定峰。即将峰顶部位假定为抛物线形，用测量的强度数据拟合抛物线，求其最大值Ip对应的衍射角2θp为峰位。设抛物线方程为 所以 X Y N，Z（z） σ3,ε3(σz,εz) N’ εΦΨ (y) σy,εy σ2,ε2 (x) σΦ (σx), εx σ1,ε1 测量方向平面 P O R Q Ψ Φ 图6－5 宏观应力测定坐标系 （6－1） 式中α1，α2，α3是相对于O－XYZ坐标系的方向余弦 （6－2） （6－3） 当ψ＝90°， εΦΨ＝εx，即 （6－4） 在平面应力条件下， σz＝0， εz＝ε3，则 （6－5） 在平面应力条件下， σz＝0， εz＝ε3，则 （6－6） （6－7） （6－8） （6－9） 式（6－9）即为待测应力σΦ与εΦΨ随方位Ψ变化率之间得关系，是求测应力的基本关系式，同时表明，在一定的平面应力状态