PDP列芯片200MHz工作频率测试方法研究 Research on the test method of the 200 MHz running frequency of PDP data driver IC.pdfVIP

第26卷第12期 电子测量与仪器学报 ％^26No．12 ·1050 JOURNALOF ELEcTRoNlCMEASUREMENTANDlNSTRUMENT2012年12月 DOI：10．3724，SP_J．1187．2012．01050 PDP列芯片200MHz工作频率测试方法研究 华国环庄华龙孙伟锋李智群 (东南大学集成电路学院，南京210096) 摘要：提出了一种测试PDP列芯片200 后的400 MHz内部时钟信号，生成256路PDP列芯片用的200MHz时钟信号以及2．5as的单bit数据信号；通过设计对应的测 试接口卡，将FPGA产生的时钟、数据和控制信号提供给PDP列芯片工作；设计目标是通过200MHz时钟信号的精确移位传输， 最终让列芯片的256路高压输出中只有OUT37有频率为568．9kHz方波信号输出，其他255个输出为恒定高电平；测试结果显 示，列芯片的256路高压输出中的确只有OUT37是方波信号，并且频率为567．7kHz，跟设计值十分接近：该结果表明待测列芯 片完全可以工作在200 MHz的时钟频率下，并且数据信号也可以在200MHz频率下被列芯片正确移位传输。 HD 关键词：PDP列芯片：FPGA；VerilogHDL；Full 中图分类号：TP806+．1文献标识码：A 国家标准学科分类代码：510．40 Researchonthetestmethodofthe200MHz ofPDPdatadriverIC runningfrequency HuaGuohuan Sun Li ZhuangHualongWeifengZhiqun Circuit (IntegratedCollege，Southeast 210096，China) University,Nanjing Abstract：Atestmethodofthe200MHz ofPDP driveris data IC testmethodiS runningfrequency proposed．The basedonadvancedFPGAfabricatedAItera inner400MHz PLLcanbeusedtocre． by Company．The signalgeneratedby atethe200MHzclock andthe2．5 data are the for256一channelsPDPdata signal as．single-bitsignal．whichinputsignals driverIC．Theclock andcontrol be to FPGAcanofferedPDPdatadriverIC the signal，datasignal signalgeneratedby by testcard．The isto that OUT37the256