SOC芯片DFT研究与设计 Research and Design of SOC DFT.pdfVIP

第9卷，第01期 电子与封装 总第69期 V01．9．No．0l 2009年01月 ELECTRONICSPlACKAGING 一～一／’、。一、 i电．。路，t7设 诗 SOC芯片DFT研究与设计 杨 兵，魏敬和，王国章，虞致国 (中围电子科技集团公司第58研究所，无锡214035) 摘要：文章首先介绍了SOC系统的DFT设计背景和DFT的各种测试机理，包括基于功能的总线 测试机理、基于边界扫描链的测试机理、基于插入扫描电路的测试机理以及基于存储器自测试的 测试机理。然后以某专用SOC芯片为例提出了SOC电路的DFT系统构架设计和具体实现方法。主 要包括：含有边界扫描BSD嵌入式处理器的边界扫描BSD设计，超过8条内嵌扫描链路的内部扫 测试方法。最后提出了该SOC系统DFT设计的不足。 关键词：系统芯片