探头在锻件侧面扫查.ppt

5. 底面回波 当缺陷回波很高，并有多次重复回波，而底波严重下降或消失时，说明锻件中存在平行于检测面的大面积缺陷。 当缺陷回波和底波都很低甚至消失时，说明锻件中存在大面积倾斜的缺陷或在检测面附近有大缺陷。 当示波屏上出现密集的互相彼连的缺陷回波，底波明显下降或消失时，说明锻件中存在密集性缺陷。 六.锻件质量级别的评定 JB-T 4730-2005将锻件质量分为Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ、Ⅴ五级， Ⅰ级最高，Ⅴ级最低。 1. 缺陷引起底波降低量的质量分级。 3. 密集区缺陷质量分级。 2.单个缺陷的质量分级。 * * 应用物理教研室 Xi an Polytechnic University 第8章 锻件超声检测 锻件检测方法概述 检测条件的选择 扫描速度和灵敏度的调节 缺陷位置和大小的测定 缺陷回波的判别 锻件质量级别的评定 锻件检测应用实例 主要内容 1.轴类锻件检测 一.锻件检测方法概述 (1) 直探头径向检测和轴向检测 用直探头作径向检测时要将探头置于外圆作全面扫查，以发现轴类锻件中常见的纵向缺陷。（A位置）。 A B 用直探头作轴向检测时，将探头置于轴的端面，并在端面做全面扫查，以检测出与轴线相垂直的横向缺陷。（B位置）。 (2) 斜探头周向检测和轴向检测 当缺陷呈径向或与轴线呈一定角度时，用斜探头做正、反两个方向的全面扫查。 2.饼类、碗类锻件检测 从端面检测时，探头置于锻件端面进行全面扫查，以检出与端面平行的缺陷。从锻件侧面作径向检测时，探头在锻件侧面扫查，以发现某些方向轴向缺陷。 3.筒形或环形锻件检测 (1) 直探头检测：从外圆发现与轴线平行的缺陷； 从端面发现与轴线垂直的缺陷。 (2) 斜探头检测：轴向检测：发现与轴线垂直的缺陷； 周向检测：发现与轴线平行的缺陷。 轴向检测 周向检测 二.检测条件的选择 1. 探头的选择 对于纵波直入射法，可选用单晶探头。 低碳钢或低合金钢材料：频率：2～5MHz， 探头尺寸： Ф14mm ～ Ф25 mm； 奥氏体钢材料：频率：0.5 ～ 2MHz ， 探头尺寸：Ф14mm ～ Ф30mm； 对于横波检测，一般选择K=1.0的斜探头进行检测。 对于较小的锻件或为了检出近表面缺陷，可选用双晶直探头，常用频率 为5 MHz。 2. 纵波直入射法检测面的选择 锻件检测时，原则上从两个相互垂直的方向进行检测，并尽可能地检测到锻件的全体积；若锻件厚度超过400mm时，应从相对两端面进行100%的扫查。 环形锻件检测 饼形锻件 筒形锻件 3. 试块选择 采用单晶直探头检测时，常选用CSⅠ标准试块。 工件检测距离小于45mm时，应采用双晶探头和CSⅡ标准试块来调节检测灵敏度。 当检测面为曲面时，应采用 CS Ш标准试块来测定由于曲率不同引起的耦合损失。 三.扫描速度与灵敏度的调节 1. 扫描速度的调节 扫描速度可在试块上进行，也可以在锻件上已知尺寸的部位上进行。 调节扫描速度时，一般要求第一次底波前沿位置不超过水平刻度极限的80%，以利于观察一次底波后的某些信号情况。 2. 检测灵敏度的调节 底波调节法（x≥3N） 试块调节法（x3N） 底波调节法：当锻件被探测部位厚度x≥3N，且锻件具有平行底面或圆柱曲底面时，常用底波来调节灵敏度。 (1) 计算：对于大平底或实心圆柱体，同距离处底波与平底孔回波的分贝差为： 对于空心圆柱体，同距离处圆柱曲底波与平底孔回波的分贝差为： d —空心圆柱体内径，mm；D— 空心圆柱体外经，mm； “+”— 外圆径向检测，内孔凸柱面反射；“-”— 内孔径向检测，外圆凹柱面反射； (2) 调节：探头对准完好区的底面，调“增益”使底波B1达基准高度，然后用衰减器增益ΔdB即可。 底波B1 → 80% 缺陷波→ 80% [例1] 用2.5P20Z探头径向检测Ф500mm的实心圆柱体锻件，cL=5900m/s，问如何利用底波调节500mm/Ф2灵敏度？ [例2] 用2.5P20Z探头径向检测外径为Ф1000mm、内径为Ф100mm的空心圆柱体锻件，cL=5900m/s