现代集成电路测试方法 - 华中科技大学光学与电子信息学院.doc

光学与电子信息 学院集成电路工程领域、软件工程领域学位硕士研究生课程简介 课程名称：集成电路测试方法学 课程代码：182.555 课程类型：□公共课 □专业必修课 █ 专业课程 □其它： 考核方式： 考查 教学方式：讲授 适用领域：电子科学与技术，集成电路工程 开课学期： 秋季 总学时：32 学分：2 先修课程要求：电路理论、模拟电子技术，数字电子技术 课程组教师姓名 职 称 专 业 年 龄 学术方向 李震 高工 微电子学与固体电子学 52 信息存储材料与器件 课程内容简介 本课程目的是培养研究生有效运用现有的测试方法、设备和工具解决超大规模集成电路测试问题的能力。注重理论教学与实践相结合。课程主要介绍数字系统芯片的结构化测试方法、存储器测试方法、模数混合信号芯片系统的测试方法和可测性设计与验证方法等。以存储器芯片SRAM、DRAM、Flash、PCRAM，还有微处理器芯片CPU、DSP、FPGA等为例子介绍测试方法的应用。另外，还介绍SOC测试，ATE的基本架构和设计，并结合VLSI测试前沿研究介绍VLSI测试的未来发展动向。 教学大纲 整个课程为24+8个学时 （1）测试概述 2学时 IC芯片从设计到产品过程中的测试问题，测试的意义、在IC开发过程中的地位和作用、面临挑战和发展趋势； 测试的一般过程、分类和ATE设备基本结构与现状； 测试成本与产品质量； 故障模型。 （2）逻辑模拟与故障模拟 2学时 面向设计验证的模拟、面向测试评估的模拟、用于模拟的模型电路等； 故障模拟算法包括串行故障模拟、并行故障模拟、推演故障模拟和并发故障模拟等。 （3）组合逻辑测试生成方法 3学时 算法基本知识； 组合逻辑电路ATPG算法包括单路径敏化法，D算法、PODEM算法、FAN算法、布尔差分法等； 测试生成系统与测试矢量压缩技术 （4）时序逻辑测试生成方法 3学时 单时钟同步电路的ATPG；按时间帧展开的ATPG；基于模拟的时序电路ATPG。 （5）存储器测试 3学时 存储器基本结构；存储器故障与失效机理；典型的故障模型；测试算法包括0-1法、Checkerboard、Walking 1/0、MATS、MATS+、March C、March C++、March A 等；存储器BIST设计。 （6）基于DSP模拟和混合信号测试 2学时 DSP简介、基于DSP的功能测试；静态DAC和ADC测试方法；动态DAC和ADC测试方法等 （7）延迟测试 2学时 延迟测试问题背景；路径延迟测试；延迟测试方法等。 （8）IDDQ测试 2学时 IDDQ测试问题背景；可检测故障、IDDQ测试方法，IDDQ测试有效性，IDDQ测试的局限性。 （9）可测试性设计方法概述 2学时 扫描测试? Ad-Hoc DFT方法、内建自测试（BIST）、边界扫描等介绍。 （10）SOC测试 2学时 SOC测试问题和要求、IEEE P1500标准、SOC测试方法、SOC测试未来挑战等。 （11）系统测试方法 1学时 微处理器测试 ??????????? 微处理器结构、功能测试、结构测试、微处理器可测试性设计、当前先进微处理器测试方法。 SRAM,DRAM,FLASH, PCRAM存储器测试应用?。 教材： Reuse Methodology Manual, For System-On-A-Chip Designs（片上系统--可重用设计方法学）， Michael Keating, Pierre Bricaud， 电子工业出版社，200 主要参考书： VLSI Test Principles and Architectures, 2006, by L.T. Wang, W. Wen and C.W. Wu. Elsevier, Morgan Kaufmann Publishers. Essentials of Electronic Testing: for Digital, Memory Mixed-Signal VLSI Circuits, 2000, by M. Bushnell V.D. Agrawal. Kluwer, Academic Publishers ? 课程名称：Methodologies for VLSI testing 课程代码：182.555