10年学生体会307110255陆芝荣.DOC

\ 本科实验报告 课程名称： 光电子学 姓 名： 陆芝荣 学 院： 信息学院 系： 光电系 专 业： 信息工程（光电） 学 号： 3071102555 指导教师： 闻春敖 2010年 6 月 5 日 实验报告 课程名称： 光电子学 实验名称： 氦氖激光器输出空间分布CCD测量 七、讨论，心得 思考题： 使用CCD测量激光束空间分布有何优点？（与采用点线扫描的测量方法进行比较，并考虑激光器的脉冲及连续等工作方式）？ 答：CCD能够直接在同一个时刻得出激光束在整个二维面空间的光强分布，而点线扫描法只能一个时刻扫描一个点的光强，从第一个点到最后的点有一个扫描延迟时间。因此，相较于一维点线扫描，CCD测量具有更快捷，更直观，实时性的优点。 另，氦氖激光器属于脉冲式激光器，发出的每一时刻的光强值并不恒定，若产生扫描延时，可能会导致出现不稳定的随机光强误差。而CCD测量则能有效避免光强的时间不稳定性所引起的误差。 分析影响测量高斯光束光斑尺寸及远场发散角精度的诸多因素。 答：高斯光束的光斑尺寸受光束的束腰半径和发散角影响。光斑尺寸与束腰半径成正比，与发散角也成正比。 高斯光束远场发散角与光束衍射倍率因子M2有关，它表征了实际光束偏离衍射极限的程度，是激光束空间相干性好坏的本质参量。M2值越大，光束衍射发散越快。 测量选取的距离Z对判断模式有无影响？ 答：距离Z对模式有一定程度的影响，实际测量中不可能存在无限远点。只有当ZZR时所测量得到的发散角才会接近于远场发散角（与远场发散角误差小于1%）。判断模式时将ZZR 的点近似为远场点处理。 心得：通过本实验的学习，我基本了解了CCD测二维高斯光束光强分布的原理，并且初步学习了一个新的软件——Origin，这对于我们的以后的自己处理图像文件的能力又是一个大的突破。 另，通过自己的亲身实践理解，更能加深巩固课堂知识，发挥自主学习探索能力， 培养合作协调能力，有助于全面锻炼。 阅 闻 2010-6-18 实验报告 课程名称： 光电子学 实验名称： 氦氖激光器谱线宽度测量 讨论，心得 思考题 1）比较法布里-珀罗标准具的自由光谱范围与平平驻波腔激光器的纵模计算公式，有何特点？若用前者去测量后者的谱宽，F-P 的光学厚度应 （大于/小于/等于）激光器的光学腔长。 答：FP标准具的自由光谱范围和平平驻波腔激光器的纵模间隔计算公式类似： 以及 ⊿νq =c/（2*n*d） 但两者的意义却完全不同： FP标准具自由光谱范围公式的“n”是指FP标准具的介质折射率，“h”是指FP标准具厚度。 而平平驻波腔激光器公式的“n”指谐振腔的介质折射率，“d”是指谐振腔的腔长。 前者表示FP标准具的多光束干涉中的最大光谱范围，而后者指的是激光器光谱相邻谱线的宽度。 若要用前者测量后者谱线宽，F-P标准具的厚度必须小于激光器的光学腔长。 2. 接上题，若已知该激光器是单纵模运行的，则F-P 的光学厚度应 （大于/小于/等于）激光器的光学腔长。 答：若激光器是单纵模运行的，F-P的光学厚度应大于激光器腔长，这样才能使得激光器的纵模间隔大于FP的自由光谱范围，才会出现单纵模运行。 3. 能否用玻璃法布里-珀罗标准具来测量半导体激光器的谱线宽度，半导体激光器的参数为Δλ=0.5 nm，λ=808 nm? 为什么？ 答：不能，因为半导体激光器的谱线宽度Δλ=0.5 nm太大，远大于FP标准具的自由光谱范围，在测量时可能出现无法观察到另一谱线的现象，所以使用该FP标准具测量半导体激光器的谱线宽度时不合理的。 心得：通过本实验的学习，我理解了FP标准具测量谱线宽度的原理，更加深刻地明白了谱线加宽的原理，掌握了FP标准具参数选择的重要条件，有助于课堂知识的巩固和延拓。 另，通过自己的亲身实践理解，更能加深巩固课堂知识，发挥自主学习探索能力，培养合作协调能力，有助于全面锻炼。 阅 闻 2010-6-18  实验报告 课程名称： 光电子学 实验名称： 半导体激光器安全使用操作 六、讨论，心得 思考题： 为什么说边发射半导体激光器在垂直于结平面方向是单横模工作的？ 答：因为在垂直于结平面方向（横向）一般为对称或非对称的三层波导结构，根据平板波导理论，在该波导中只允许基模传输，此时，它的输出只有基模，输出偏振为TE，发散角很大，其他模式会被自动过滤。所以此方向上是单横模（基模）工作的，发散角不随驱动电流的改变而改变。 使用半导体激光器要注意什么问题？ 答：1）电源的驱动电流必须小于半导体激光器的技术参数中的额定电流。 2）在每次开、关电