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SPC讲解与说明 如何实现制程过程动态控制 Statistical Process Control SPC的目的 目的=控制 SPC的对象 控制对象：制程部门 SPC的方式 控制方式：统计技术 SPC的范围与内容 均值-全距控制图X-R Chart 不良率控制图P Chart 过程能力指数Cpk 不同阶层人员对SPC的理解 数据的类别 计量型数据 通过量测的方式才能得到的数据 如用游标卡尺量得的尺寸数据 计数型数据 ⑴以数一数的方式得到的数据 如不良品的个数 ⑵以简单判断方式得到的数据 如合格与不合格、OK与NG… 管制图的类别 X-R Chart 均值-全距管制图 X管制图 UCL=X+A2R CL=X LCL=X－A2R R管制图 UCL=D4R CL=R LCL=D3R 常数表 如何绘制X-R管制图 如何制作解析用管制图 如何绘制X-R管制图（续） 如何制作管制用管制图 X-σ管制图 均值-标准差管制图 X管制图 UCL=X+A3S CL=X LCL=X－A3S S管制图 UCL=B4S CL=S LCL=B3S 标准差的计算方式 σ精确=√Σ（Xi－X）2/（n－1） σ近似= R/d2 X-R Chart 中位值-全距管制图 X管制图 UCL=X+m3A2R CL=X LCL=X－m3A2R R管制图 UCL=D4R CL=R LCL=D3R X-Rm Chart 个别值-移动全距管制图 X管制图 UCL=X+E2Rm CL=X LCL=X－E2Rm Rm管制图 UCL=D4Rm CL=Rm LCL=D3Rm p- Chart 不良率管制图 UCL=p+3 p（1－p） √ n CL= p LCL=p－3 p（1－p） √ n pn- Chart 不良数管制图 UCL=np+3 √n p（1－p） CL= np LCL=np－3√np（1－p） C-Chart 缺点数管制图 UCL=C+3 √C CL= C LCL=C－3√C u-Chart 单位缺点数管制图 UCL= u +3 u √ n CL= u LCL= u －3 u √ n 管制状态下的管制图 稳定状态或受管制状态或过程能力充分状态 点的分布：大多数点分布在CL附近，小数点散布在上下管制界限附近 无序原则：所有点的分布无规则可以依循 无界外点 管制图的连续七点原则 若有连续七点上升 或下降 在第六点，应提出预防措施，并分析相关影响因素 在第七点，应提出矫正措施，不论描点是否有在界外 管制图的异常示例 点有序分布在中线的上下两侧 原因：表明在选取样品时，有事先加以挑选；或有意地选取两个特定的对象 管制图异常分析检讨（1） 制程作业未标准化 人员训练不够 机械未加以保养 工具或夹具不适当或使用不当 不良材料混入制程 原设计有错误或图面上的问题等 测试仪器未加以校正或维护 管制图异常分析检讨（2） 机械精度不足够 工作环境不适当（如需空调却未安装） 设计上发生矛盾 测试仪器不足或测试方法不适当 缺乏技术人员 综合制程能力不足---材料、机械、加工 方法与人员综合结果，无法达 到品质要求 管制图异常分析检讨（3） 工作人员疏忽 未按操作标准作业 操作标准不完备 不是随机性抽样 计算方法错误 机械自然磨损 操作条件发生突然变化 日夜班精神上的困扰等等 绘制管制图的注意事项 制程作业之标准化 决定管制项目 不可用任何规格值替代管制界限 依特性选用管制图 合理的抽样计划 描点超出界限要加以改善 样组数n=4或5较好 与制程管制相配合