电子显微镜electronmicroscope简称电镜或电显.ppt

Electron Microscope 班級:化材一乙 組別:第三組 組員:張紘瑋.塗俊峰.林志山. 潘宥霖.楊于霆.蔡佩均.任龍祥 指導教授:黃常寧 電子顯微鏡 ˙歷史-顯微鏡的由來˙基本介紹-電子顯微鏡的簡介˙組成結構-電子顯微鏡之內部構造分解˙成像原理-電子顯微鏡技術區別˙種類介紹-深入了解˙應用˙樣本處理 目錄 為什麼要做電子顯微鏡??? 人類不斷努力創造新的儀器，希望能看到更細小的結構。放大鏡就是最早利用光學原理製成的儀器。之後，顯微鏡的技術日漸成熟，分辨微細結構的能力可超越放大鏡約二百倍。但新技術的發展並未停止。人類的求知欲最終促使電子顯微鏡的誕生，達到了前所未有的分辨能力，比人眼高出多達二百萬倍！這種極高的分辨能力容許我們非常細緻地檢視固體中個別的原子，和它們的排列情況。這些現代的造影技術都應用了電子奇異的波動特性。 1926年漢斯·布希研製了第一個磁力電子透鏡。1931年恩斯特·魯斯卡和馬克斯·克諾爾研製了第一台透視電子顯微鏡。展示這台顯微鏡時使用的還不是透視的樣本，而是一個金屬格。1934年鋨酸被提議用來加強圖像的對比度。1937年第一台掃描透射電子顯微鏡推出。一開始研製電子顯微鏡最主要的目的是顯示在光學顯微鏡中無法分辨的病原體如病毒等。1938年他在西門子公司研製了第一台商業電子顯微鏡。1949年可投射的金屬薄片出現後材料學對電子顯微鏡的興趣大增。1960年代透射電子顯微鏡的加速電壓越來越高來透視越來越厚的物質。這個時期電子顯微鏡達到了可以分辨原子的能力。1980年代人們能夠使用掃描電子顯微鏡觀察濕樣本。1986年魯斯卡為此獲得諾貝爾物理學獎。1990年代中電腦越來越多地用來分析電子顯微鏡的圖像，同時使用電腦也可以控制越來越複雜的透鏡系統，同時電子顯微鏡的操作越來越簡單。 歷史 電子顯微鏡 electron microscope(簡稱電鏡或電顯)電子顯微鏡是使用電子來展示物件的內部或表面的顯微鏡。20世紀70年代，透射式電鏡的解析度約為0.3納米(人眼的分辨本領約為0.1毫米)。高速的電子的波長比可見光的波長短（波粒二象性），而顯微鏡的解析度受其使用的波長的限制，因此電子顯微鏡的解析度（約0.1納米）遠高於光學顯微鏡的解析度（約200納米），所以通過電鏡就能用肉眼直接觀察到某些重金屬的原子和晶體中排列整齊的原子點陣。 基本介紹 電子顯微鏡由鏡筒、真空裝置和電源櫃三部分組成。 　鏡筒主要有電子源、電子透鏡、樣品架、熒光屏和探測器等部件，這些部件通常是自上而下地裝配成一個柱體。電子透鏡用來聚焦電子，是電子顯微鏡鏡筒中最重要的部件。一般使用的是磁透鏡，有時也有使用靜電透鏡的。它用一個對稱於鏡筒軸線的空間電場或磁場使電子軌蹟向軸線彎曲形成聚焦，其作用與光學顯微鏡中的光學透鏡（凸透鏡）使光束聚焦的作用是一樣的，所以稱爲電子透鏡。光學透鏡的焦點是固定的，而電子透鏡的焦點可以被調節，因此電子顯微鏡不象光學顯微鏡那樣有可以移動的透鏡系統。現代電子顯微鏡大多采用電磁透鏡，由很穩定的直流勵磁電流通過帶極靴的線圈產生的強磁場使電子聚焦。　　　　 組成結構 透射電子顯微鏡結構示意圖。 電子源是一個釋放自由電子的陰極，柵極，一個環狀加速電子的陽極構成的。陰陰極和陽陽極之間的電壓差必須非常高，一般在數千伏到3百萬伏之間。它能發射並形成速度均勻的電子束，所以加速電壓的穩定度要求不低於萬分之一。 樣品架樣品可以穩定地放在樣品架上。此外往往還有可以用來改變樣品（如移動、轉動、加熱、降溫、拉長等）的裝置。 探測器用來收集電子的信號或次級信號。 　真空裝置用以保障顯微鏡内的真空狀態，這樣電子在其路徑上不會被吸收或偏向，由機械真空泵、擴散泵和真空閥門等構成，並通過抽氣管道與鏡筒相聯接。 　電源櫃由高壓發生器、勵磁電流穩流器和各種調節控制單元組成。  　　1．透射電鏡技術 (電子顯微鏡)　　 透射電鏡是以電子束透過樣品經過聚焦與放大後所產生的物像，投射到熒光屏上或照相底片上進行觀察。透射電鏡的分辨率爲0.1～0.2nm，放大倍數爲幾萬～幾十萬倍。 由於電子易散射或被物體吸收，故穿透力低，必須制備更薄的超薄切片（通常爲50～100nm）。其制備過程與石蠟切片相似，但要求極嚴格。要在機體死亡後的數分鍾釣取材，組織塊要小(1立方毫米以内），常用戊二醛和餓酸進行雙重固定樹脂包埋，用特制的超薄切片機（ultramicrotome）切成超薄切片，再經醋酸鈾和檸檬酸鉛等進行電子染色。電子束投射到樣品時，可隨組織構成成分的密度不同而發生相應的電子發射，如電子束投射到質量大的結構時，電子被散射的多，因此投射到熒光屏上的電子少而呈暗像，電子照