抛光液各组分在sio_2介质cmp中的作用机理分析 analyzing on the fundamentals of slurry components in silicon dioxide dielectric cmp.pdfVIP

抛光液各组分在sio_2介质cmp中的作用机理分析 analyzing on the fundamentals of slurry components in silicon dioxide dielectric cmp.pdf

  1. 1、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。。
  2. 2、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载
  3. 3、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
  4. 4、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
  5. 5、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们
  6. 6、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
  7. 7、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
抛光液各组分在sio_2介质cmp中的作用机理分析 analyzing on the fundamentals of slurry components in silicon dioxide dielectric cmp

櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶 : doi 103969/ jissn1003353x201003014 抛光液各组分在 介质 中的作用机理分析 SiO2 CMP 梁蒲,檀柏梅,刘玉岭,张研,陈婷 (河北工业大学微电子技术与材料研究所,天津 ) 300130 摘要:介绍了超大规模集成电路中 介质的化学机械抛光机理及抛光液在化学机械抛光 SiO2 中扮演的重要角色通过单因素实验法在低压力的实验环境下着重分析了抛光液中表面活性 。 , , 剂 值调节剂纳米磨料等成分在 介质化学机械抛光中的具体作用及影响机理最终得 、pH 、 SiO2 。 出最优化的实验配比即当表面活性剂的浓度为 值为 硅溶胶与去离子水 , , , , 30 mol/ L pH 1130 的体积比为 时,在保证较低表面粗糙度的同时得到了较高的抛光速率 。 2∶1 476 nm/ min 关键词:化学机械抛光; 介质;抛光液;抛光速率;表面粗糙度 SiO2 中图分类号 文献标识码 文章编号 : : : ( ) TN3052 A 1003353X 2010 03025204 Analyzing on the Fundamentals of Slurry Components in Silicon Dioxide Dielectric CMP , , , , Liang Pu Tan Baimei Liu Yuling Zhang Yan Chen Ting ( , , , ) Institute of Microelectronics Technology and Materials HeBei University of Technology Tianjin 300130 China : ( ) Abstract The critical role of chemical mechanical polishing CMP process fundamentals of SiO2 , dielectric and the slurry effects were introduced. Through the single factor experiment in lo

您可能关注的文档

文档评论(0)

hello118 + 关注
实名认证
文档贡献者

该用户很懒,什么也没介绍

1亿VIP精品文档

相关文档