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第10章 临床诊断中的放射防护

第十章 临床诊断中的放射防护 第一节 辐射源与辐射场 第二节 医疗照射的防护 第三节 外照射防护的基本方法 第四节 医疗照射屏蔽材料与厚度估算 第五节 核医学诊断的防护(自学) 第四节 医疗照射屏蔽材料与厚度估算 X射线或γ射线通过物质层时候由于光电效应、康普顿散射和电子对生成三种使入射光子数减少,称为X射线或γ射线衰减。光电效应、康普顿散射、电子对生成的作用概率分别与物质的原子序数(Z)有关,高原子序数的物质屏蔽X射线和γ射线效果较好。 一、X射线或γ射线的衰减规律 ? (一)窄束、单能X射线或者γ射线的衰减 窄束X射线或者γ射线是指不包括含散射线成分的射线束,通过屏蔽层后的X射线或者γ射线仅由未经相互作用或未碰撞的射线组成。 窄束、单能X射线的衰减符合指数规律: 分别为入射到物质层表面和穿过物质层的光子数 分别为入射到物质层表面和穿过物质层的光子数 线性衰减系数μ与屏蔽材料的密度及物理状态(如温度、压力等)有关,为了消除密度的变化而带来的误差,有人常采用质量衰减系数 来估算物质屏蔽厚度。 材料的辐射屏蔽性能和计算屏蔽的厚度 半衰减厚度 10倍衰减厚度 评价 所谓半衰减厚度,就是将入射的X射线或γ射线减少一半所需的物质厚度;就是将入射的X射线或γ射线减少到1/10的物质厚度。可分别用不同毫米厚度的铝、铜或铅等表示。 和 及μ的关系 铅当量(lead equivalent):用铅作为基准物质时,以铅的厚度来表示的衰减当量,单位是毫米铅(mmPb)。 由于辐射屏蔽材料的厚度与材料的密度成反比关系,因此铅当量与其他屏蔽材料厚度有: (二)宽束X射线或γ射线的衰减 宽束射线的特点:准直较差或没有准直,穿过物质层可能相当厚 因此经过多次散射后的光子仍有可能穿过物质层,并且到达所关心的那个空间位置。为了估计这种多次散射的影响,必须引进一个修正因子B(积累因子 ),即: 实际上,积累因子B就是在所关心的位置上,真正观察到某一辐射的大小与根据窄束指数衰减规律算得的同一个辐射量大小的比值。 只有当吸收物质厚度为零时,B=1,否则,B1 源的形状 光子能量 吸收物质的性质 物质层的厚度 影响B的大小的因素 积累因子的具体计算方法比较复杂,为了使用方便,将不同辐射能量在各种材料中的积累因子列于表10-12中 自由程是指单个光子自进入物质到第一次与物质中的原子发生相互作用所通过的路程。由于入射光子与物质发生碰撞的随机的,所以单个光子所走的路程(自由程)也是随机变化值的,因此引入平均自由程的概念,平均自由程就是自由程的平均值。 平均自由程= μd即为平均自由程的倍数 如果在宽束X射线或γ射线的衰减中不考虑积累因子,最后计算的屏蔽层厚度将远低于实际需要的厚度。 二、医疗照射屏蔽厚度的估算方法 (一)减弱倍数法 减弱倍数(attenuation factor,K)是指辐射场中某点处没有防护屏蔽时的当量剂量与设置了防护屏蔽后的当量剂量的比值 X射线或γ射线减弱倍数常用能量为hv的宽束放射线经过厚度为R的屏蔽层来计算,屏蔽层前后照射量率或吸收剂量率的减弱倍数K表达式: 无屏蔽时参考点的照射量率或吸收剂量率 经过屏蔽后参考点的控制值 (二)投射比法 投射比(transmission ratio, B)为辐射场中某点处设置防护屏蔽后的当量剂量率 与设置防护屏蔽前的当量剂量率 的比值,即: 投射比与衰减系数K互为倒数关系: 我国X-CT机房墙壁就采用投射比的概念计算厚度。由于X-CT机房工作涉及工作负荷量和人员驻留等因素的影响,因此引入了每周工作负荷量(W)和人员驻留因子(T)的概念。 人员驻留因子(T):人们的控制区内逗留的时间占辐射源开启的时间的分数,人员驻留因子见表10-15。 利用投射比参数计算医用X-CT机房屏蔽厚度的公式为: 每周工作负荷量(W):每周CT扫描的总层数,单位:层/周 屏蔽物后面要求人员的周控制剂量限值5μSv/周 驻留人员距扫描中心的距离(cm) 为扫描中心d0(cm)处单层扫描的辐射剂量(μGy)/层 由于X-CT机X射线的投射是旋转性的,在机房4π立体角的各个方向有等同的投照概率,因此X-CT机房的墙壁不设主防护墙和次防护墙。 用16cm的混凝土(密度2.35t/m3) 或24cm的砖(密度1.65t/m3) 或2mm的铅 我国规定医院用X-CT投射屏蔽(墙壁): 工作量较大的X-CT机房用上述混凝土20cm或砖37cm或铅2.5mm以能够保证墙壁外的安全 (三)直接计算法 医用诊断X射线机的投射方向相对固

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