退火对二氧化钛薄膜光学性能的影响 the effect of annealing on the optical properties of tio2 thin films.pdfVIP
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退火对二氧化钛薄膜光学性能的影响 the effect of annealing on the optical properties of tio2 thin films
退火对二氧化钛薄膜光学性能的影响
王 军“6,谢亚楠6
(江西科技师范学院a.江西省材料表面工程重点实验室;b.材料科学与工程学院,南昌330013)
nm减小到400
厚度和带隙。结果表明:当波长从700 nm时,薄膜的折射率从1.465增加到1.485。退火前后
ilm和652.4547
Ti02薄膜的厚度分别为595.836 nm。未退火TiO:薄膜的光学带隙为3.85eV,500℃退火后
TiO:薄膜的光学带隙为3.67
eV。与未退火薄膜相比,500℃退火后TiO:薄膜的吸收边出现了“红移”,光响应
区范围变大,提高了可见光的利用率。
关键词:TiO:薄膜;溶胶一凝胶法;DTA分析;透射谱
中图分类号:TM215.3文献标志码:A 文章编号:1009—9239(2011)06—0040—04
TheEffectof onthe
AnnealingOpticalProperties
ofTi0ThinFilms
2
5
Yanan
WangJun8….Xie
MaterialsScience
(a.JiangxiKeyLaboratoryofSurface of
Engineering;b.School
Scienceand Normal 33013,China)
Engineering,JiangxiTechnologyUniversity,Nanchang
Abstract:ATiO2filmwas onthe slide a modified method.The
prepared glass by sol-gel Ti02
was DTA.Thetransmissionofthefilmwithout andafter500
powderanalyzedby spectra annealing
weretested the
refractiveindex,thicknessandband of
℃annealing byspectrophotometer,and gap
thefilmwerecalculated method.Theresults that
usingenvelope show therefractiveindexin—
creasesfrom1.465to1.485whenthe decreasesfrom700nmto400am.Thethickness
wavelength
ofthefilmwithoutandafter is595.836amand652.4547
500℃annealing
band ofthefilmwithout is3.85
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