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bsim soi阈值电压模型参数的提取 parameters extraction of threshold voltage model of bsim soi
第30卷第1期 电子器件 V01.30No。1
chillese DeviceS
2007年2月 JounlaI饼EIeccron Feb.2007
ParametersExtractionofThreshoIdModeIofBSIMSOI
Voltage
LJ
R“i一办鲫,LID“o—Zi,DUH懈九,HAjC砌。一矗P,HAN
Z矗e咒g—s矗P729
100029,岛i彻)
(丁雄吡”船。厂Mifr0比以ron咖o,吼妇sgAmd硎yo厂Sci聊es,B8巧i札g
Abstract:Thresholdisthemost ofMOSFET.Thresholdmodelisthe
voltage parameter
important v01tage
most ofMOSFETmodel. model extractionis
importantpart Currently,t11eparameters performedmainly
commercialThe is
software. ofcommercialsoftwareconfinedbecauseareusual:y
through application they
andtheirmechanismistoo Anovel
method andlocal
veryexpensive complex combininggeneticalgorithm
is inthis toextractthreshold ofBSIMSOI.Thismethodis
optimizationproposedpaper v01tageparameters
and touse.Andithas Itisconvenientto touse.
simpleeasy verygoodaccuracy. apply
extraction;threshold
Keywords:SOI;parameters v01tage;geneticalgorithm
E&埘C:0260;2520M;2530F
BSIM
SoI阈值电压模型参数的提取
李瑞贞,李多力,杜 寰,海潮和,韩郑生
(中国科学院微电子研究所,北京100029)
摘
过商业软件来完成,商业软件由于价格昂贵以及内部机理的复杂性限制了它们的应用.本文提出了遗传算法和局部优化相结
合来提取Bs圈ⅥsOI阈值电压模型参数的方法,该方法简单易用,且具有较高的精确度,适合推广使用.
关键词:s0I;参数提取;阈值电压;遗传算法
中图分类号:耵屺86.1 文献标识码:A
Silicon—On—Insulator(S
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