材料测试分析.docx

题型：简答题、计算题======================================Chapter1：Introduction:电镜放大倍数High resolution: TEM (1?)， SEM (4?）High magnification: TEM (1M×), SEM (300K×)测试方法有哪些，应用及特点1. X射线衍射（XRD）晶体结构、晶格参数、晶体缺陷、物相分析、内应力(宏观应力)等2.电子显微镜（1）透射电子显微镜 组织形态与结构同位分析 （成分分析）（2）扫描电子显微镜 与电子探针结合使用，可形貌观察与化学成分同位分析（3）电子探针显微分析 成分分析（4）俄歇电子能谱 表面成分分析（5）X射线能谱仪（6）离子探针3. 热分析：分析研究在加热或冷却过程中物质的物理变化和化学变化过程TGA：热重分析；测重量TMA：热机械分析；测尺寸DTA：差热分析；测温度（测试温度可达1600℃）DSC：差示扫描量热分析；测能量（测试温度700℃）TEM与光学显微镜相比三大特点Chapter2：XRD第P4公式滤波片阳极靶的选择Target selectionIn order to avoid fluorescent radiation and minimize absorption of the incident beam, it is important to select radiation for X-ray diffraction measurements that has a wavelength close to an absorption minimum, and on the long wavelength side of the absorption edge for the specimen.阳极靶K波长稍大于试样K的吸收限Z靶≤Z试样+1吸收系数的计算质量吸收系数1）单质元素-吸收体物质的密度，-质量吸收系数（cm2?g-1)，表示单位重量物质对X射线的吸收程度，对于波长一定的X射线和一定物质，其为一定值。布拉格方程计算，变形公式，代表的物理意义4.1 布拉格方程的导出 X射线照射到原子面中，所有原子的散射波在原子面反射方向上的相位是相同的，是干涉加强方向Where: λ =Wavelength θ=X-ray incidence angle, 2 θ=diffraction angled=Lattice inter-planar spacing of the crystal n= an integer known as the order of the diffracted beamFor parallel planes of atoms, with a space dhkl between the planes, constructive interference only occurs when Bragg’s law is satisfied. When the X-ray wavelength is fixed, a family of planes produces a diffraction peak only at a specific angle θn-反射级数，θ-掠射角，半衍射角；2θ-衍射角X射线衍射与可见光反射主要区别：（1）所有原子散射波干涉的结果；（2）在若干个特殊角度可见；（3）X射线衍射强度很小。ReflectionDiffractionOccurs from surfaceOccurs throughout the bulkTakes place at any angleTakes place only at Bragg angles~100 % of the intensity may be reflectedSmall fraction of intensity is diffracted4.2 布拉格方程的讨论（1）布拉格方程的导出X射线照射到原子面中，所有原子的散射波在原子面反射方向上的相位是相同的，是干涉加强方向n-反射级数，-掠射角，半衍射角；2 -衍射角布拉格方程是选择反射只有满足布拉格方程的才可能发生反射（2）产生衍射的极限条件晶体一定时，2d，但也不宜过小，否则太小，使衍射现象难以观察一定时d/2 ，所以晶体中产生的衍射线条数是有限的（3）反射级数n与干涉指数设某一晶面（hkl)产生n级衍射，则可将其看成是衍射面(HKL)=n(hkl)的一级衍射令dHKL=dhkl/n 则-X射线晶体学中通用的布拉格方程；(HKL)-干涉指数，衍射指数（4）布拉格方程的应用1）已知，测，计算d，确定晶体周期结构——晶体结构分析2）已知d