高速cmos闪烁型模数转换器中的误差源研究 study of error sources in high-speed cmos flash adc.pdfVIP

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2017-08-21 发布于上海
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高速cmos闪烁型模数转换器中的误差源研究 study of error sources in high-speed cmos flash adc.pdf

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高速cmos闪烁型模数转换器中的误差源研究 study of error sources in high-speed cmos flash adc

No．2 第31卷第2期电子器件 V01．31 Chinese Devices 2008年4月 JournalOfElectron Apr．2008 ofErrorSourcesin CMOSFlashADC’ Study High-Speed MOTai—shanh，YE Tian-chunl，MA Cheng-yan2 MicroelectronicsChinese of of AcademyofSciences，Beijing ，1．Institute 100029，China；、 Microelectronics ＼2．HangztwuZhongke Co．，Ltd，Hangzhou310053，China ， errorsourcesin CMOSflashADCare errorsource Absteact：Six high-speed investigated．Eachmaypoten- limitthe andSNR ofADCThesixerrorsourcesincludereference tially linearity performance voltages introducedthe noiseofthe nonidealities，input-dependentdelay by preamplifier，kickbackcomparator， clock anddistributed inthermometer on code，and jitter nature，sparkles comparator theresearchofeacherror circuitsolutionis source，possible presentedaccordingly，making medium-resolutionCMOSflashADCfeasible． solutions Keywords：CMOS；FlashADC；errorsources；circuit EEACC：1265H；6250G；1350H 高速CMOS闪烁型模数转换器中的误差源研究* 莫太山n，叶甜春1，马成炎2 ，1．中国科学院微电子研究所，北京100029．、＼2．杭州中科微电子有限公司，杭州310053／摘要：对高速CMOS闪烁型模数转换器中的六种误差源进行了研究。每个误差源会潜在的限制模数转换器的线性度和信噪比。这些误差源包括基准电压的非理想因素、前置放大器引入的输入有关的时间延迟、比较器的回程噪声、时钟抖动与分布特性、温度计码中的火花码、比较器的亚稳态。在每种误差源研究的基础上，给出了