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碳化硅铝合金材料触变成形电子封装壳体研究 study on the thixoforming of electronic packaging shell ith sicp and al alloy

第28卷第6期 电 子 元 件 与 材 料 v01.28No.6 ELECTRONICCoMPONENrrsAND 2009年6月 MAlrERIALs Jun.2009 碳化硅铝合金材料触变成形电子封装壳体研究 马春梅1,王开坤1,徐峰1,杨荃2,张崎3 微电子技术研究所,安徽合肥230022) 摘要:采用有限元软件DEFORM.3 D|Ⅲ,开发了热力耦合触变成形电子封装壳体模拟模型,模拟了SiCp/A356 (铝合金)复合材料电子封装壳体的成形过程。对触变成形过程中坯料流动速度、等效应变和温度分布进行了分析, 并对可能产生的成形缺陷进行了预测.结果发现,使用半固态触变成形技术可成形SiCp/A356复合材料电子封装壳 体,在挤压速度为100mm/s、坯料温度为580℃时,能够较好地满足电子封装壳体尺寸的要求,但成形过程中常伴 有低于半固态温度的热加工现象出现. 关键词:电子封装壳体;触变成形:SiCp/A356复合材料:模拟 doi:10.3969/j.issn.1001—2028.2009.06.018 中图分类号:TM931 文献标识码:A 文章编号:100l-2028(2009)06.0060-04 onthe ofelectronic shell Study thixoformingpackaging 谢th andAI SiCp aⅡ0y MA Chunmeil,WANGKaikunl,XUFengI,YANGQuan2,ZHANGQi3 ofMaterialsand of (1.Schooi Science Scienceand 100083。China: Engineering,UniversityTechnologyBeijing,Beijing 2.National ResearchCenterofAdvanced 100083。China;3.East-ChinaMicro-Electronic Engineering Rolling,Beijing of Institute 230022,China) Technology,Hefei Abstract:Athermo-mechanicalsimulafionmodelwas withDEFORM.3D1”andthe coupling developed thixoforming of was electronic shellsimulatedthismodel.1nheflow process compositepackaging SiCctA356 using strainand of formed distributionWere andthe defects inthe temperature slurry analyzed potential

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