提高pcb基板通断测试效率的研究 the investigation of improve the pcb hige testing efficiency.pdfVIP

EPE电字工业专用设舀 Ic制造与设备 提高PCB基板通断测试效率的研究 ∞*涛，宋婉女制自敏．着主 摘要：随着CAD行m发展．正确合理的垃剖产3合格率越加重要介绍如何正确编辑Gerberz 件．合理的制作井生成移动探针测试{件．提高PCB和陶瓷芯H基板通断刹试的准确率和效率 美键词：Ge小er z件；印制≈路版：陶瓷等}基扳：通断“试 中固分类号：N407 文献标识码：B 7．04 文章编号：1004．4507(2011)04．001 The Of thePCB Investigation Improve HigeTesting Efficiency TIAN SONG Wanzhen．LIU Jie Hongtao Guying、HUO The45thReseats,lnslitule China ofCET(’，Beljin9101601 Abstract：WithCAD eolTeCtmethodofdetection industrydevelopmem，the productsqualifiedpaaicu— This introduceshowto editGerberfiles，reasonableand mobile larlyimporIantpaper correctly making tesl thePCBandceramicsubstrate and probefiles，improve chips higetestingaccuracyefficiency circuit Keywords：Gerberfile：PCB(printedboard)：Ceramic chipssubstrate；Higetesting 般lnJ；’i，PCB坫板通断测试{：要柯3种冉昂贽，尢疑印制板的测试成本就相应地增加许多。 浊，t,ll：引眯通断测试、探针台测试和移动探针测试。 探针台虽价格低臁，m韭．：|二作埘氰则是排列 对】刨床通cIl=测试足剧Ⅲ钳去接触持测印制规则的矩阵型或杼圆形的基板、芯¨。探针的行进 扳】。蚪-。^『『J他髓，他用扑f二个十n麻的带打弹性的路径是非常呆板的儿基板第一行的某制运动剑 “口北接触探针阵列【也就址通常所蜕的针床1． 另一删．然后F移至第1行．弭从一侧移动到另 通过lh力2，探引相连接，搽针另端0『入删试系侧的往返运动。这种机挑的运动模jl=致使探针台 统，完成接IU蝴、fU和信号线、测I,t线的连接，从=f_『 H能局限于州列规则的丛扳进行测试。 完成测试。这种测试方洼将会受到印制板L焊点 移动探针测试根据印制板的阿络芙系．利川 M趴1’个数的限制。众所蹦剐，印制扳的布线越来 多根t口卧难印制扳扳m】h任意移动的探针来进行 越“．导迎4L4L静、焊盘越来越小。随若BGA的