1064 nm与532 nm激光对电子束蒸发制备的hfo2sio2高反膜损伤比较 comparison of laser induced damage at 1 064 nm and 532 nm to high-reflective film fabricated by electron beam evaporation.pdfVIP

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  • 2017-08-23 发布于上海
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1064 nm与532 nm激光对电子束蒸发制备的hfo2sio2高反膜损伤比较 comparison of laser induced damage at 1 064 nm and 532 nm to high-reflective film fabricated by electron beam evaporation.pdf

1064 nm与532 nm激光对电子束蒸发制备的hfo2sio2高反膜损伤比较 comparison of laser induced damage at 1 064 nm and 532 nm to high-reflective film fabricated by electron beam evaporation

第20卷第9期 强 激 光 与 粒 子 束 V01.20,No.9 2008年9月 HIGHPOWERLASERANDPARTICLEBEAMS Sep.,2008 文章编号: 100l一4322(2008)09一1457—04 1064 nm激光对电子束蒸发制备的 nm与532 Hf02/Si02高反膜损伤比较’ 李大伟h2, 陶春先h2, 李 笑1’2, 赵元安1, 邵建达1 1.中国科学院上海光学精密机械研究所光学薄膜技术研究与发展中心,上海Z018001 2.中国科学院研究生院,北京100039) 064 摘要:研究了电子束蒸发制备的Hf()。/Si02高反膜在inm与532nm激光辐照下的损伤行为。 基频激光辐照时损伤形貌主要为节瘤缺陷喷溅留下的锥形坑.当能量密度较大时出现分层剥落;二倍频激光损

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