对于负透镜接近轴焦距现代光电测试技术.PPT

* §2.3.1 光学零件及光学系统焦距测量原理 ★ 焦距和顶焦距 　　光学元件的焦距被定义为平行于光学系统光轴的平行光束经过光学系统后的会聚点（焦点）到光学系统的像方主点的距离。 式中： — 被测系统焦距，单位为mm; 　　　 — 象高，单位为mm; — 入射角，单位为rad。 （2-22） 　　光学元件的顶焦距被定义为平行于光轴的平行光束经过光学系统后的会聚点（焦点）到光学系统最后一面顶点的距离。顶焦距通常又叫截距。 　　测量焦距所依据的原理，主要都是几何光学中与焦距有关的基本公式（假定物、像空间都是空气介质），常用的几个公式如下： 牛顿公式 ： 正切条件公式 ： 垂轴放大率（β）公式 ： §2.3.2 光学零件及光学系统焦距测量方法 测量准确度不高，不需要专用测量设备 长焦距物镜 远距离物体成像法 7 测量准确度与放大率法相当，需要专用光学台 较长焦距照相物镜 节点法 6 测量准确度与放大率法相当 负透镜 附加透镜法 5 测量准确度不高，设备简单 焦距为几米到几百米的物镜 特长焦距测量法 4 测量准确度与放大率法差不多，适用于短焦距物镜的测量 显微镜物镜 附加接筒法 3 测量准确度高，用于平行光管物镜焦距的标定 平行光管物镜 精密测角法 2 设备简单、操作方便、使范围较大、准确度较高、目前最常用的方法 望远镜物镜、照相物镜、目镜、正透镜和负透镜 放大率法 1 比 较 说 明 测 量 对 象 测 量 方 法 序号 　　焦距测量时为达到预期的准确度，注意以下几点： ①平行光管、显微镜（或前置镜）的光轴与被测光学系统的光轴应基本重合。 ②通过被测光学系统光束充满指定的有效孔径。要求观测系统不切割被测光学系统的成像光束。 ③测量用平行光管焦距不小于被测光学系统焦距的3倍。 ④测量时，应按被测光学系统实际工作状态安排测量光路。 ⑤测量焦距安置分划板时，应使光轴通过分划板刻线的对称中心。最外面一对刻线的间距应小于平光管物镜焦距的1/40。 ★放大率法测量焦距和顶焦距 　　这种方法主要用于测量望远镜物镜、照相物镜和目镜的焦距和顶焦距，也可用于生产中检验正、负透镜的焦距和顶焦距。 （一）测量原理 　　本方法测量负透镜的焦距时，焦距计算公式： 图2-25 光学元件焦距测量原理 (a) 正透镜 (b) 负透镜 （二）测量仪器 　　放大率法测量焦距的专用仪器为焦距仪，此外也可以在光具座上应用本方法测量焦距。 　　焦距仪主要由平行光管、透镜夹持器和测量显微镜构成。 　　测量时将被测透镜装在透镜夹持器上，平行光管的分划刻线经平行光管物镜和被测透镜成像在被测透镜的焦面上，再经显微物镜成像在测微目镜的分划板上，测出分划板上这个像的大小，即可求出被测透镜的焦距。当显微镜看清被测透镜焦面上的刻线像时，记下显微镜的位置读数，然后轴向移动显微镜使之调焦在被测透镜的后表面上，再次记下显微镜的位置读数，两次读数之差即为被测透镜的顶焦距。 ? 图2-26 焦距仪结构示意图??????????????? ???? 玻罗板 1.平行光管??? 2.透镜夹持器??? 3.测微目镜 -5～-20 5～240 10 5 2 25.7 5× -20～-120 25～1200 50 25 10 71 1× -55～-550 50～1000 100 50 20 200 0.5× 3 2 1 负透镜 正透镜 y3=2.75 y2=5.50 y1=13.75 焦距测量范围（mm） 仪器常数C0 显微物镜焦距(mm) 显微物镜放大率β 　　设以 　　　表示测微目镜的螺距，则　的表示方式为　　　　，因此有 　　　　　　　　　　　　　　　　(2-23) 式中，　　　为仪器常数，以　表示，于是 （2-24） （三）测量注意事项 正透镜：焦距的最大值受仪器导轨长度限制； 负透镜：受显微镜工作距离的限制。 平行光管通光口径要大于被测透镜的有效口径；测量显微镜数值孔径大于或等于被测透镜相对孔径的一半，对于负透镜接近轴焦距。 （四）不确定度分析 　　对焦距测量公式进行微分得： 　　　　　　　　　　　　　　　　　(2-25) 1 3 正态 A 0.1% 测量显微镜放大率误差引起的 1 矩形 A 0.0005mm 对准误差与估读误差引起的 1 3 正态 A 0.0005mm 分划板刻线误差引起的 1 3 正态 A 0.1% 平行光管物镜焦距标准误差引起的 灵敏系数 K值 分布 评定方法 不确定度来源 不确定度分量 　　根据上表，当选用分划板刻线为20mm，成象大小为5mm时，可算得放大率法测量焦距时的相对合成标准不确定度为。 相对扩展不确定度为 ★