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SediGraph III PLUS 全自动X 光沉降粒度分析仪 成熟的经典设计 ® SediGraph III PLUS 全自动X 光沉降粒度分析仪 久经考验的技术和可靠性 在过去的四十多年中，麦克公司的SediGraph 是全球众多实验室粒度分析的标准仪器。无论是在恶劣的生产环境中还是在 实验室里，SediGraph 凭借其卓越的性能，能够获得可靠精确的测量结果。该仪器采用X-光沉降法测量粒径分布，通过检测样 品对X射线的吸收直接测量颗粒质量。SediGraph 根据斯托克斯定律，通过测量颗粒在已知性质液体中的沉降速率，能够得出 粒径范围在0.1μm-300μm间样品颗粒的等效球径。 新一代的SediGraph III Plus 粒度分析仪结合了经典的和改进的颗粒分析技术，能够提供具备更高重复性和精确度的颗粒粒 径信息，并且进一步加快了测试速度，在几分钟内即可完成测试。 智能设计特色 样品池 X-射线安全联锁 SediGraph III Plus 粒度分析仪先进的设计确保了测量的 重复性和使用的便利性。使得仪器操作更加容易，日常维护 更加简单。并且能够确保对同一样品，在任意一台SediGrap h 仪器上都能获得重复性极高的结果。 X-射线控制阀 • 高精度X 光管终身保修（7 年） • 简化泵系统，确保快速分析和易于维护 X 射线安全锁 温度控制 • 降低噪声，提供更加安静的工作环境 分析室 自动/手动泵控制阀 • 维护提醒装置，根据总测试量，提示用户进行定期维护 温度控制 • 电脑控制混合室温度，提高测试可重复性 混合池 • Windows 操作软件，以太网连接，可进行点击式选择菜单 磁力搅 拌器 供应液和废液管线 ，联网工作，打印机选择，剪切和粘贴等操作 • 多功能和交互式报告系统，能够提供多种类型的报告，例 样品循环泵 进液/排 如颗粒沉降速度和粒度 （以Phi 为单位） 液泵 溢出液排 空气过滤器口 水管 多项功能 • 完整的颗粒分析，能够确保对样品中的所有颗粒全部进行分析，包括粒径大于 300μm 和小于0.1μm 的部分 • 能够与其他粒径测得的数据相结合，使数据报告范围可扩展至125,000μm (125mm)，在地质学方面具有很好的应用 • 自下而上地扫描沉降室，能够准确的获取沉降颗粒的总数，同时最小化颗粒分离 所需的时间 • 全自动操作模式能够增加分析样品总数，并且能够减少人为操作步骤，以降低由 人为操作造成的测量误差 • 控温分析可确保在整个分析过程中液体的性质不发生任何变化，以获取精确的分 析结果 • 多种分析速度，可根据实际需要选择所需的速度和分辨率 • 实时显示，能够监控当前分析的累积质量图，以便根据需求立即修正分析程序 • 统计过程控制（SPC ）报告能够跟踪过程性能，便于立即对变化做出响应 •