最小二乘法在荧光余辉测温中的应用李锋锋材料学院1013208014摘要.DOC

最小二乘法在荧光余辉测温中的应用 李锋锋，材料学院 1013208014 摘 要： ， ， ， 。，， ， 。： ; 余辉; 测温; 荧光寿命; 最小二乘法 Data processing for temperature measurement based on f luorescence lifetime Abstract： It is critical to get the fluorescence life time exactly in temperature measurement based on fluorescence lifetime。 How ever， the received signal of fluorescence decay after optoelectronic switching is of ten accompanied by random interference and DC off set ， which affect s the measurement effect violently。 In view of this situation， methods to eliminate these background interferences with software were proposed。 And least square method which could obtain the fluorescence life time exactly by the measure data was introduced。 Key words： fluorescence; decay-time; temperature measure; data processing; least square method， 。 ， ， 。 ， ， [1]， 。， ， ， 。 ， 。 1 被测信号的特征 某些稀土荧光物质在紫外线的照射下， 。 （1） 式中：t为时间变量; I0 为激励停止时荧光峰值强度; τ为荧光寿命。 ， ， ， 。， [ 2~ 4] （2） 式中： Id为通道直流成分， 来源于各种直流漂移及杂散光; In为随机噪声引起的噪声信号。 这两者属于背景干扰。 数据处理的首要问题就是采取措施消除背景干扰。 1.2 背景干扰的消除 系统中的随机噪声主要来源于热噪声和散粒噪声， 均服从标准正态分布[5]， 数学期望为零。 因此被测信号经过 k 次累加后， 其信噪比可提高 k倍。 增大累加次数 k 可进一步提高信噪比， 但采集卡需要采集的点数增多， 采集时间变长， 致使测温系统的响应速度降低。 故在实际的系统中应选择一个合适的累加次数。经过累加处理后， 假设被测信号中的随机噪 声被全部去掉， 被测信号的表达式如式(3) 所示。 （3） 对式(3) 两端取极限， 得 （4） (4)可见， 当时间足够长时， 荧光信号会衰减为零，此时被测信号中只剩下直流量 Id ，[ 6-9]，。 这些方法大多是从测量数据中取出几个点来求取τ值， 因此对个别测量数据存在较大依赖性， 容易产生误差。 本文提出一种用最小二乘拟合来求取荧光寿命的方法， 它着眼于测量数据的整体规律， 可以消除测量数据局部扰动带来的影响。 对式(1) 两端取以 e 为底的自然对数， 即 （5） 令则式( 5) 可写成 （6） 式中： a 与 b 为未知常数。 通过实验可测得数据 根据最小二乘法定义， 可以求得 列出正规方程组为 （7） 通过求解方程组(7) ， 求出 a、b： （8） 将式(8) 代回式( 6)， 得 （9） 将式(9) 两边取 e指数， 即可得到拟合后的指数曲线方程 （10） 这是一条标准的指数曲线， 它是测量数据整体所遵循规律的最佳近似， 在这条曲线方程上求取荧光寿命可以在很大程度上消除测量数据局部扰动对计算结果的影响。 2 数据处理在计算机中的实现 在实际的测温系统中，将荧光衰减信号通过光电转换变为电信号，用数据采集卡对其采样，然后进行处理。在一个采集周期 T 内的采样序列为 （11） n —— 一个周期采样点数 △t —— 采样间隔（n△t = T ） 假设采集卡一次采集 k 个周期为T