红外探测器TPS434低温磁场性能研究.DOC

红外探测器TPS434低温、磁场性能研究 樊洁，宋小会，张殿琳* 中国科学院物理研究所，北京100190 摘 要 以商用高灵敏度红外探测器TPS434为研究对象，测量了其灵敏度随温度(280～10 K)、辐射的调制频率、磁场变化(0～6 T)的相关信息。从实验结果得到：TPS434的灵敏度随着温度降低而降低，随辐射的调制频率增加而衰减，但是低温下的衰减速率变缓，说明探测器的弛豫时间变短；热电堆的温差电动势在低温下会随磁场发生线性变化，可以通过线性拟合扣除磁场对测量结果的影响。由实验所得数据估算等效噪声功率NEP以及最小可检测功率Pmin，对TPS434作为THz探测器的可行性进行了分析。 关键词 热电堆；红外探测器；THz探测器；低温；磁场 中图分类号： O434.3 文献标识码： A DOI：10.3964/j.issn.1000-0593(2010)05-1153-04 引言 近年来，随着热电材料探测器在军事领域、民用领域的广泛应用，以及MBE、CMOS等微机械手段不断提高，热电堆红外探测器的灵敏度得到显著提高［1, 2］，这使得将热电堆红外探测器作为检测THz辐射探测器成为可能。使用热电堆探测器作为THz辐射探测器既可以避免由于电流引起的1/f噪声和热敏电阻的热噪声对测量极限的限制［3］，又可以避免光子探测器对频率的依赖性［4］。国外的一些研究机构已经在从事将热电堆探测器作为太赫兹光谱探测器的研究工作，有些研究结果已经商品化［5，6］。 本文以一种常规高灵敏度热电堆红外探测器-TPS434为例，对其低温范围的灵敏度特性、灵敏度随辐射的调制频率变化特性、以及灵敏度在强磁场下的性能进行了较为详尽的测量，并根据测量结果对其所能检测的功率极限进行分析，探讨TPS434在更宽温度范围作为THz探测器的可行性。 1 实验部分 1.1 实验装置 将TPS434放置在一个带光学窗口、可实现4～300 K连续控温的脉冲管制冷机中。以卤素灯作为光源，经过硅滤光片对探测器形成红外辐射。在探测器与光源之间放置斩波器，并以LI5640检测TPS434的输出电压。图1给出测试系统示意图。 Fig.1 Block diagram of the low temperature measurement system 1.2 热电堆探测器相关参数 热电堆传感器的响应率是温差电压动势U与入射辐射功率P的比值 (1) 热电堆的总噪声Vn主要由３部分组成：约翰逊噪声Vj、1/f噪声Ve、热起伏噪声Vt［7］。 (2) 一般热电堆探测器的热绝缘性好，热导低，热起伏噪声Vt可以忽略。由于热电堆探测器感应的是温差产生的温差电动势，是一种无源探测，由电流引入的1/f噪声Ve也可以忽略。所以热电堆的噪声主要是热噪声，即约翰逊噪声。所以Vn可以写为 (3) 热电堆的等效噪声功率NEP可以写为 (4) 2 实验与结果分析 室温条件下，以1 Hz作为辐射的调制频率时，锁相放大器检测到的电压为1.97 μV。按照TPS434［8］技术手册中的相关数据进行归一化处理，可知卤素灯对TPS434产生的辐射功率近似58 nW。以下所有测量结果都以此辐射功率为源进行相关的测量。 控制系统温度分别在8，45，70，97，180，250 K，测量TPS434在不同温度下温差电动势随辐射的调制频率的响应。按照(1)式，对数据处理后得到灵敏度响应随辐射的调制频率的变化，如图2所示。 Fig.2 Chopper frequency-dependent sensitivity of TPS434 随着温度的降低，TPS434对相同辐射功率的灵敏度响应变小。在相同温度下，灵敏度的直流响应度最高，随着频率升高，灵敏度逐渐衰减至零，但随着温度的降低，这种衰减趋势变缓。用灵敏度除以直流灵敏度，得到信号在不同温度下的相对信号输出，如图3所示，上述随温度降低、辐射的调制频率升高灵敏度衰减变缓的趋势更加清晰。TPS434对辐射调制频率的响应反应了热电堆的弛豫时间，也就是说低温下热电堆的弛豫时间变短。 控制放置TPS434的样品台温度以3 K·min-1的速率从280 K降至10 K，以1 Hz为辐射的调制频率，对TPS434的温差电动势进行了测量。按照(1)式处理后得到TPS434在以1 Hz为辐射的调制频率时灵敏度随温度的变化趋势，如图4所示。由于热电堆的冷端与样品台没有直接的热连接，冷端的温