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嵌入式处理器在片调试功能的验证
第 卷 第 期 计算机辅助设计与图形学学报 ，
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许 彤 王朋宇 黄海林 范东睿 朱鹏飞 郑保建 曹 非
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! （中国科学院计算技术研究所系统结构部微处理器中心 北京 ）
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$ （中国科学院研究生院 北京 ）
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E （北京神州龙芯集成电路设计有限公司 北京 ）
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摘 要 以龙芯 号处理器为研究对象，探讨了基于 的处理器在片调试功能的验证方法 根据在片调试的结
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构特征建立了功能覆盖率模型，并以访存模式为基准分步建立虚拟验证原型 整个验证将定向功能测试和指令集随
机测试有机地结合起来，迅速定位了设计中多个难以发现的错误 最终验证的功能覆盖率达到 ， 原型经
!%%O .18,
长时间运行无误
关键词 在片调试；覆盖率模型；虚拟验证原型；定向功能测试；随机测试；龙芯 号处理器
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中图法分类号 21EAC!
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