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2017-09-03 发布于天津
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一种高性能低功耗seu免疫锁存器-微电子学

第卷第期微电子学 , 46 4 Vol.46 No.4 年月 2016 8 Microelectronics Au.2016 g 췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍 一种高性能低功耗SEU免疫锁存器 1 1 1 2 1 2 , , , , , 黄正峰钱栋良彭小飞欧阳一鸣易茂祥方祥圣 ( , ; 1.合肥工业大学电子科学与应用物理学院合肥 230009 , ) 2.合肥工业大学计算机与信息学院合肥 230009 : , 。摘要为了缓解瞬态故障引发的软错误提出一种对单粒子翻转完全免疫的加固锁存器该锁 , 存器使用个输入分离的反相器构成双模互锁结构使用具有过滤瞬态故障能力的单元作为输 4 C , 。 , 出级采用快速路径设计和钟控设计以提升速度和降低功耗 Hsice仿真结果表明该电路结构 p , , 。 , 没有未加固节点所有节点都具有自恢复能力适用于门控时钟电路相比于 SIN-LCCascode , , , 、、和加固等类型的锁存器该锁存器的延迟功耗功耗延迟积平均下降 STFERSTTMR SEUI , , 。 , 、。 82.72% 25.45% 84.24% 此外该电路结构受工艺角供电电压和温度扰动的影响较小 : ; ; ; ; 关键词加固锁存器瞬态故障单粒子翻转软错误门控时钟电路中图分类号: 文献标识码: 文章编号: ( ) TN47 A 1004-3365201604-0524-06 AHihPerformanceLowPowerSEUImmuneLatch g 1 1 1