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2013电子设计大赛报告
2013年全国大学生电子设计竞赛
设计报告
简易频率特性测试仪(E 题)
2013年9月7日
摘要
该频率特性测量仪采ARM控制核心,主要由DDS、滤波器、ADC等功能模块组成。其中,数据处理包括了幅频测量以及相频测量部分。实际操作通过ARM控制来实现幅频特性和相频特性的测量,包括参数预置、点测结果的显示,以及用模拟示波器单独或同时显示幅频特性曲线和相频特性曲线。本系统采用FPGA控制的DDS芯片9854实现信号发生电路,频率值与步长均能灵活准确地预置。并用ARM控制显示。被测网络采用RLC,中心频率及带宽均达到要求。用FPGA控制DDS产生两路正交扫频信号,与被测网络经过乘法器后幅度改变,相位改变。经过低通滤波器和ADC转换器,最后又ARM处理显示。
【关键词】“DDS” “ARM应用” “FPGA”
目 录
1 系统方案..........................................................4
1.1 设计任务与要求...............................................4
1.2 系统设计方案.................................................5
2 系统理论分析与计算................................................6
2.1 系统原理.....................................................6
2.1.1 系统原理图...............................................6
2.1.2 幅频特性产生原理.........................................7
2.1.3 相频特性产生原理.........................................8
2.2 DDS原理......................................................8
2.2.1 基本概念.................................................8
2.2.2 DDS原理框图..............................................8
2.2.3 工作过程.................................................8
2.2.4 频率控制.................................................8
2.2.5 波形存储.................................................9
2.2.6 实现过程.................................................9
2.3 滤波器的设计..................................................9
2.3.1 滤波器方案选择...........................................9
2.3.2 滤波器设计流程图........................................11
2.3.3 滤波器设计公式..........................................11
2.4 乘法器设计...................................................11
2.4.1 乘法器特性..............................................11
2.4.2 基本理论................................................12
2.5 AD9288简介...................................................12
2.6 被测网络设计.................................................12
2.6.1 RLC串联谐振电路电路图 ..................................12
2.6.2 RLC设计公式...................
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