第七章 模数及数模转换.pptVIP

四、A/D转换器应用 概述 LPC2220系列自带采用逐次逼近式算法的A/D转换器，提供8个A/D转换输 入脚：AIN0～AIN7。 A/D转换器的特性： 1、10位逐次逼近式A/D转换器 2、测量范围0～3.3V 3、10位转换的时间≥2.44us 4、一路或多路输入的Burst转换模式 5、可选择由输入引脚的跳变或定时器的匹配信号触发转换 6、具有掉电模式 1.1 A/D转换器的内部结构 1.2 A/D转换器寄存器描述 A/D转换器包括两个寄存器： A/D控制寄存器（ADCR）； A/D数据寄存器（ADDR）。 名称 描述 复位值 访问 ADCR A/D控制寄存器。在工作之前，必须写入ADCR控制寄存器来选择工作模式 0R/W ADDR A/D数据寄存器。该寄存器包含ADC的DONE标志位和10位转换结果。 NA R/W A/D控制寄存器ADCR ADCR 名称 描述 复位值 7:0 SEL 从输入引脚AIN7-AIN0中选择采样/转换输入脚。 0 15:8 CLKDIV 将VIB时钟分频得到A/D转换时钟，该时钟必须小于等于4.5MHz 0 16 BURST 该位为0，转换由软件控制，需要11个是中方能完成。如果该位为1，A/D转换器以CLKS字段选择的速率重复进行转换，并从SEL为1的引脚由低位到高位开始扫描。重复转换通过清零该位而终止。 0 19:17 CLKS 该字段用来选择BURST模式下每次转换使用的时钟数和所得ADDR转换结果的LS为可确保精度的位的数目。000:=11个时钟（10位）；001： :=10个时钟（9位）;111:=4个时钟（3位） X 21 PDN 1:正常模式；0：掉电模式 23:22 TEST[1:0] 用于器件测试，00：正常；01：数字测试模式；10：DAC测试模式；11：一次转换测试模式 X 26:24 START 当BURST为0时，这些为控制A/D转换是否启动和何时启动。000：不启动；001：立即启动：010：P0.6/EINT0/MAT0.2/CAP0.2引脚出现ADCRbit27位选择的边沿时启动；011：P0.22/MAT0.0/CAP0.0启动；100：MAT0.1;101;MAT0.3;110:MAT1.0:111:MAT1.1 0 27 EDGE 该位只有在START字段为010~111时有效，0：在选择MAT/CAP信号的下降沿有效：1：在选择MAT/CAP信号的上升沿有效 A/D数据寄存器ADDR ADDR 名称 描述 复位值 31 DONE A/D转换结束的标志，当A/D转换结束时该位置位。该位在ADDR被读出或ADCR被写入时清0。如果ADCR在转换过程中被写入，该位置位，并启动一次新的转换 0 30 OVERUN BURST模式下，如果在转换产生LS位的结果前一个或多个转换结果被丢失或覆盖，该位置位。该位通过读ADDR寄存器清0 0 29:27 这些位读出为0。它们用于未来CHN字段的扩展，使之兼容包含更多的通道的转换器 0 26:24 CHN 这些位包含的是LS位的转换通道 X 23:16 这些位读出为0。它们允许连续A/D值的累加，而不需要使用与门屏蔽处理，使得至少有256个值不会溢出到CHN字段 15:6 V/VDDA 当DONE为1时，该字段包含一个二进制数，用来代表SEL字段选中的Ain脚的电压。该字段根据VDDA 脚上的电压对Ain脚的电压进行划分。该字段为0表明Ain脚的电压小于、等于或接近VSSA ；该字段为0x3FF表明Ain脚的电压接近于、等于或大于VDDA X 5:0 这些位读出为0。用于位的扩展和功能更为强大的A/D转换器 0 1.3 A/D转换器的操作 先将测量通道引脚设置为AINx功能，然后设置ADC的工作模式，ADC转换通道，转换时钟，并启动ADC转换。 ADC的时钟频率不能大于4.5MHz。 ADC转换时钟频率Fadclk的计算公式为： Fadclk = Fpclk/(CLKDIV+1)。 AIN0初始化示例 PINSEL1 = 0 // 设置P0.27为AIN0功能 ADCR = (10) // SEL=1，选择通道0 ((Fpclk/1000000-1)8) // CLKDIV = Fpclk/1000000-1，即转换时钟为1MHz (016) // BURST=0，软件控制转换操作 (017) // CLKS=0，使用11个时钟周期转换 (121) // PDN=1，正常工作模式（非掉电模式） (022) // TEST[1:0]=00，正常工作模式（