单分子中心定位精度与信噪比关系及中心定位算法改进研究.pdfVIP

第30卷第6期 电 子 显微 学报 V01．30，No．6 2011年12月 ofChineseElectron 2011．12 Journal MicroscopySociety 文章编号：1000—628l(2011)06—0527．06 单分子中心定位精度与信噪比关系及 中心定位算法改进研究 翟人宽1”，李小卫2，孙洁林2，邵志峰2 (上海交通大学1．生命科学技术学院；2．系统生物医学研究院，上海200240) 摘 要：本文从理论和实验两个角度研究单荧光分子中心定位精度与信噪比的关系，提供了一种相对简单的方法 来确定基于单分子中心定位技术的超高分辨显微成像系统的分辨率。特别是，本文给出一种提高定位精度的像素 重建算法，在信噪比等条件不变的情况下，该算法可有效改善单分子定位精度，从而提高超高分辨成像系统的分 辨率。 关键词：单分子成像；中心定位；超高分辨显微镜；信噪比 中图分类号：Q331；Q336文献标识码：A 单分子荧光中心定位技术在单分子成像¨’2。、粒 子跟踪口’41以及超高分辨显微成像”’61等技术中有很 重要的意义。基于单荧光分子中心定位技术的超高 面脉冲响应函数)，可用下式描述： 分辨显微成像技术能打破传统远场光学显微镜衍射 极限对分辨率的限制，实现纳米尺度分辨能力。这种 成像技术的核心是，一次只针对一个或少量可分辨的 (1) 单分子荧光点进行定位，找到其中心位置。 ＼ ， 这里，m=兰ff(NA)Az；，。=仃(掣A)2P。；．，。是贝赛尔 Thompson等¨。指出中心定位的精度近似等于 s／N“2，这里S为点扩散函数的标准方差，N为收集函数一阶项；P。为图像所包含的总能量；NA为光镜 到的光子数。背景噪音、像素尺寸等其它因素同样 系统数值孑L径；A为波长。由于贝塞尔函数处理起 来比较复杂，所以通常将PSF近似为高斯函数。在 会影响定位精度。近年来，Cronin等。8。利用天体学 实际使用中，用高斯函数来近似贝塞尔函数的误差 数据分析的技术(1uckyimaging)，使单分子荧光图 像的分辨率提高了1．6倍。本文将分别从理论和实 很小一，…。因此，本文中，下面的高斯函数将被用来 验的两个角度研究定位精度(或者称为分辨率)与 描述PSF： 成像系统信噪比的关系，旨在建立一种比较简单的 乙咄xp卜生堑掣)，(2) 方法来确定显微成像系统能提供的分辨率。这个 关系可为搭建超高分辨显微系统的设计者提供指 这里j…为位置为(z，Y)处的信号强度；Io为光斑 导和确定系统分辨率的依据。同时，本文给出一种 中心的信号强度；s为高斯分布的标准方差；(戈。， reconstruction 新的算法，称为像素重建算法(pixel Y。)为光斑中心的坐标。测量得到的光斑将会用最 小二乘法拟合此PSF函数，从而确定光斑的中心 algorithm，PRAL)。与传统的定位方法相比，该算法 可将单分子中心定位的精度提高2倍，从而有效提 位置。 高超高分辨成像系统的分辨率。 考虑到像素尺寸，噪音等因素的影响，测量得 到的信号可近似写为： 1模拟和实验方法