IC测试原理－射频无线芯片测试基础.PDF

封装测试技术 IC T Package Test Technology S （上接第七期519页） IC 测试原理-射频/无线芯片测试基础 许伟达 科利登系统有限公司 1 引言 ·功率放大器 CODEC使用数字信号处理方法 （DSP）来编 芯片测试原理讨论在芯片开发和生产过程中芯 码声音信号，以进行数据压缩。它还完成其它一 片测试的基本原理，一共分为四章，下面将要介绍 些功能，包括卷积编码和交织编码。卷积编码复 的是最后一章。第一章介绍了芯片测试的基本原 制每个输入位，用这些冗余位来进行错误校验并增 理，第二章介绍了这些基本原理在存储器和逻辑芯 加了编码增益。交织编码能让码位错误分布比较均 片的测试中的应用，第三章介绍了混合信号芯片的 匀，从而使得错误校验的效率更高。 测试。本文将介绍射频/无线芯片的测试。 符号编码把数据和信息转化为I/Q信号，并把 2 射频/无线芯片测试基础 符号定义成某个特定的调制格式。基带滤波和调制 整形滤波器通过修整I/Q调制信号的陡峭边沿来提 射频/无线系统会同时包含一个发射器和接收器 高带宽的使用效率。 分别用于发送和接收信号。我们先介绍发射器的基 IQ调制器使得I/Q信号相互正交 （积分意义 本测试，接下来再介绍接收器的基本测试。 上），因此它们之间不会相互干扰。IQ调制器的 3 发射器测试基础 输出为是IQ信号的组合，就是一个单一的中频信 号。该中频信号经过上变频器转换为射频信号后， 如图1所示，数字通信系统发射器由以下几个 再通过放大后进行发射。 部分构成： 先进的数字信号处理和专用应用芯片技术提高 了数字系统的集成度。现在一块单一的芯片就集成 了从ADC转换到中频调制输出的大部分功能。因 此，模块级和芯片级的射频测试点会减少很多，发 射器系统级和天线端的测试和故障分析就变得更加 重要。 发射器的主要测试内容 信道内测试 ·信道内测试采用时分复用或者码分复用的方 图1通用数字通信系统发射器的简单模块图 法来测试无线数字电路。复用指的是频率或者空间 上的复用等。在时分多址 （TDMA