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德国伯托公司 LB440 料位计培训资料 一、系统概述 1．测量原理 LB440 料位计是利用γ射线通过物料时被物料吸收的原理来测量料位的。γ射线穿过物料时被物料吸收，从而强度减弱，这个过程遵循一个物理定律。写成数学公式如下： I = I0×e-μ×ρ×d 其中I0为穿过物质前的射线强度，I为穿过密度为ρ、路径为d的物料后的射线强度，μ为吸收系数，与放射源的类型有关，对于给定的放射源，μ可以认为是常数。 图1为测量原理图。 d 放射源 探测器 I/I0 图1：测量原理 由于测量系统与所测物料的非接触性，使得物料对测量不产生任何物理和化学上的影响，从而保证了测量的高可靠性及低维护量。 系统配置 对于不同的测量任务，需要不同的系统配置。选择最佳配置就是选择最合适的放射源以及最合适的探测器。选择系统配置的主要依据是测量范围、测量部位的几何形状等。 2. 1 棒源/点探测器配置 图二是棒源/点探测器的基本配置图以及相应的标定曲线图。棒源的长度根据所需的测量范围而定。棒源的强度分布保证了测量的线性，即探测器接收到的信号与料位的变化成线性关系。在这种情况下，电子线路不再需要线性化。因此，标定及操作很容易。 料位 棒源 探头 信号 图2：棒源配置示意图 2 棒探测器/点源配置 图三是棒探测器/点源的基本配置图。棒探测器的长度根据所需的测量范围而定。如果所需的测量范围太大，则需要两个以上的棒探测器。如果一个点源不适宜就用两个或多个点源。测量的非线性由主机内的电子线路补偿。对于某个特定的测量系统的线性修正数据由EGG Berthold 提供。 料位 棒源 探头 信号 图3：棒探测器配置示意图 2. 3 棒源/棒探测器配置 如果测量范围太大，而且探测器至源的距离太大或者设备的壁太厚，应选择棒源/棒探测器配置，如图四。在这种情况下，源与探测器的长度都应与测量范围相等。 测量的非线性由存储在主机内的修正数据修正。修正数据由EGG Berthold 提供。 料位 棒源 探头 信号 图4：棒源/棒探测器配置示意图 2. 4 点源/点探测器配置 在测量范围很小的情况下，可以选择点源/点探测器配置,如图5。 此时测量的的非线性纯由指数规律引起，通过主机内的软件就能得到修正。 料位 探头 放射源 信号 图5：点源/点探测器配置示意图 3 LB440主机 3. 1概述 主机置于一19英寸、3HE、21TE的框架内，包括CPU板与电源板。微处理器是32位的。面板上有六个触摸式键盘，其中三个是操作键，用于设置或修改参数，另外三个是功能键 。面板上的显示窗内有4行显示。RS232接口也在前面板上。 图6：LB440面板示意图 接线端子在后面板上。包括电源接线端子、探头接线端子、电流输出接线端子、数字输入/输出接线端子。电流输出信号是隔离的，高、低限报警继电器、故障报警继电器的输出也是隔离的。一个机架内可以容纳一个主机、数个副机。副机用于与其余的探头连接并与主机通信。 系统对放射源的自然衰减进行自动补偿。 全部标定数据存储在可擦写存储器内，就是在电源出现故障时也不会丢失。 主机的显示窗内有4行显示，前三行是菜单内容，用于显示被选的参数或者当前的测量值。最后一行显示当前三个操作键的功能，或者，当仪表处于测量状态时，显示“run”。 3. 2 菜单结构（原理） 图7为菜单结构图。键〈more〉用于选择各菜单组，键〈sk1〉及键〈sk2用于从菜单组中选择的子菜单。在子菜单中用〈more〉选择不同的条目，在子菜单的结尾，用〈done〉即可回到本子菜单所在的菜单组。 图7：菜单结构图 3. 3 键盘功能 料位计的操作通过键盘来完成。键盘包括操作键及功能键。 操作键 操作键用于选择不同的菜单组和存取参数。在菜单的不同位置操作键有不同的意义。其意义由显示窗对应的符号决定。 操作键 功能 Sk1 与 Sk2 在某一菜单组中选择子菜单 more 进入下一个菜单组 操作键 功能 ^^^ 在子菜单中选择不同条目，或在光标所在的数上加“1”。 操作键 功能 循环移动光标 操作键 功能 + 与 - 在下一级子菜单中作循环选择 done 回到菜单组 图8：LB440显示窗 EGG