GEM探测器的安装-Indico.PPT

* 30cm?30cm GEM探测器制作和测试 尤文豪 核探测与核电子学国家重点实验室 中国科学技术大学近代物理系 2014-07-19 GEM简介 制作工艺 性能测试 1. 均匀性测试 2. 有效增益测试 3. 位置分辨测试 总结及展望 主要内容 典型的几何结构: Cu: 5μm Kapton: 50μm 孔径: 60μm 80μm 空间距: 140μm GEM(Gas Electron Multiplier)简介 绷膜 粘内部支架 Francesco Noto Jlab12-Group GEM, Mechanical Tracker Jlab-SBS 粘胶法制作大面积GEM 自张紧工艺及优点 所有GEM膜是通过外框支撑，薄膜有效区内不需要支架，所以探测器不存在死区、胶的老化及气流方面的问题； 各组件准备完成后，整个安装过程方便快捷，仅需数小时，而粘胶法及热膨胀法则需要几天； 探测器所有部件均可拆卸，制作及维修成本较低。 GEM探测器的安装(30cm?30cm) 安装外框 装膜 绷膜中 绷膜效果 测试系统 均匀性测试 X-ray Large-GEM Pre-Amp Shaper HV MCA 全能峰 逃逸峰 Cu靶X射线 4000V 均匀性测试结果 Max: 27.55% Min: 22.7% σ: 12.25% Average: 0.211 Max: 23.2% Min: 13.3% σ: 8.81% 有效增益测试 X-ray Large-GEM Pre-Amp Amplifier Scaler/Counter CAEN N1145 HV Picoammeter Keithley-6487 测试系统 计算有效增益: Discriminator CAEN N845 有效增益结果 位置分辨测量（正在进行） SFE16 二维读出(118?118)： 条宽:1mm(x); 1.5mm(y) 间距:2.54mm 4000V 位置分辨测量（正在进行） 测试系统 X-ray Large-GEM SFE16 HPTDC HV Pre-Amp Discriminator NIM-TTL Signal TOT Trigger Signal from 3rd foil 位置分辨测量初步结果 Sigma=2.138 Sigma=1.687 总结及展望 展望： 继续位置分辨的测量，并优化读出电极板； 进行100cm?50cm GEM探测器设计与制作。 * * *