La052Y015Ca017Sr016MnO3SrTiO3薄膜的结构研究.pdfVIP

i (Lao．。。Yo．，。)(Ca01，Sr。．1e)MnO。／SrT0。薄膜的结构研究 蔡宏灵，。吴小山 南京大学物理系，固体微结构实验室，南京，210093 高炬 香港大学物理系，香港 整、均匀，粗糙度仅o．37nm，显示二维生长特征。对称、非对称X射线衍射(XRD)及 X．射线西扫描的测量结果表明薄膜样品具有外延生长特征，且沿b方向有很好 的四次对称性；其晶格参数分别为a=5．5117A，b=7．6376A，c=5．5404A。我们根据 薄膜的晶格常数分析了薄膜的品格应变。 稀土锰氧化物R1私。Mn03(RAMO，R为三价稀土离子，A为二价碱土离子)由于其 庞磁电阻(CMR)效应在磁存储、磁感应等方面巨大的应用价值而受到了广泛的研究。其 物理机制由于存在着电荷序、轨道序、自旋序、相分离等等复杂的现象而至今仍然不明确[1】。 ● 人们在寻找理论模型的同时也在不断探索更低场更高磁电阻材料[2】。La系锰氧化物一般都 磁输运性质[3】。锰氧化物薄膜的晶格应变和应