X射线衍射XRD法测定Ni电极材料结构、半高宽、峰高比及其测定方法的研究.pdfVIP

x射线衍射(XRD)法测定Ni电极材料结构、半高宽、峰高比及其测定 方法的研究 程群1 北京普析通用仪器有限责任公司 北京100081 摘要：通过衍射峰的半高宽和峰高比可以研究Ni电极材料粉末颗粒的微结构特征，本文描述了应 用X射线衍射法测定Ni阳电极材料结构、计算其衍射峰的半高宽和峰高比。求解峰高比时改进测定 方法，采用定点测量的方法，减小了在密封式管条件下由于计数小而产生很大的计数统计误差 ， l／√万，使定量更准确。从而可以更好地了解Ni电极材料的电极性能，便于建立工艺条件。 关键词：X射线衍射；Ni阳电极材料；半高宽；峰高比 i n I i I onDetermi Ni ckel EectrodeMatera Study ng Structure， HaI f-wi