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X射线衍射全谱拟合分析微结构 吕光烈 0028) (浙江大学，杭州，31 大量事实证明，多晶材料的晶粒性质，如品粒尺寸、晶粒形状，晶粒均匀性等对材料的性 能有重要影响，更由丁．其和晶粒边界，晶体缺陷等的联系，因而对它的研究显得尤其重要，是x 射线衍射晶体学领域中的～个重大课题。 实际上，X射线衍射微结构分析方法就是一种基于衍射峰型和半峰宽的分析方法。这是因为， x射线衍射线形可以表达为仪器宽化线形(包括仪器几何，光学系统和l样品位置偏移等所造成的 宽化)以及样品自身宽化线形(包括晶粒尺寸，应变以及微缺陷等所造成的宽化)的卷积： ● (1) 办(x)=Ig(x9·f(x—x3dx。 其中，办(x)表示观察线形，g(xj表示仪器宽化线形，f(x-x9表示样品自身宽化线形，x =2q--2皖，x’是在工范围内的函数变量。 讲，仪器峰型函数g倒容易得到，而且对于相同的测试条件不会改变，因此关键是样品宽化模型