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第35 卷第9 期 光电工程 Vol.35, No.9
2008 年 9 月 Opto-Electronic Engineering Sep, 2008
文章编号:1003-501X(2008)09-0060-06
基于图像配准的 STN-LCD 外观缺陷检测
沈会良,张宏刚,李志能
( 浙江大学 信息与电子工程学系,杭州 310027 )
摘要:提出了一种基于图像配准的超扭曲向列液晶显示器件(STN-LCD)的外观缺陷自动检测方法。该方法首先对
标准模板图像做不均匀光照消除、二值化以及区域信息提取;然后通过控制点检测和仿射变换实现待检测图像和
模板图像之间的配准;并利用各图形区域的灰度平均值和标准方差等统计信息,检测缺段、针孔等各类缺陷。为
提高图像配准精度,进一步提出了有效控制点筛选方案以及混合插值方法。实验结果表明,该方法设计思路合理,
缺陷检测正确率达到 98.3% ,可代替人眼实现对 STN-LCD 多种外观缺陷的快速、自动检测,满足实际应用需求。
关键词:STN-LCD;缺陷检测;图像配准;FFT;检测
中图分类号:TP216 文献标志码:A
Detection of STN-LCD Defects Based on Image Registration
SHEN Hui-liang,ZHANG Hong-gang ,LI Zhi-neng
( Department of Information and Electronic Engineering, Zhejiang University, Hangzhou 310027, China )
Abstract: a method based on the technique of image registration is proposed for detecting the appearance defects of
Super-twisted Nematic Liquid Crystal Display (STN-LCD). The standard template LCD image is first recovered from
possible non-uniform illumination, and then the statistical information of each region is collected by image thresholding
and region labeling. The template and testing image are registered by control-point detection and affine transform. The
defects including stroke-loss and pinhole of the LCD can then be detected by using region statistics such as mean and
standard deviation of grayscales. To improve the accuracy of image registration, a special scheme of control-point
selection and hybrid image interpolation is proposed. Experimental results show that the proposed method is robust and
accurate, and can detect STN-LCD defects auto
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