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扫描电化学显微镜的发展与应用

扫描电化学显微镜的发展与应用 陈莉 主 要 内 容 SECM的简介 工作模式与原理 研究与应用 前景展望 产生背景 1984 年Engstrom 把生理学上的离子电渗技术引入化学领域,研究了固体电极表面微区电化学活性,达到10μm 的分辨率[1] 1986 年Engstrom 小组利用微电极探针监测扩散层内毫秒级寿命反应中间体NAD 等电极产物的空间分布,可达2μm 分辨率[2] 同年, 电分析化学家Bard 小组在使用扫描隧道显微镜(STM) 首次进行溶液中导体表面研究时,为了弥补STM 不能提供电化学信息的不足,明确提出了扫描电化学显微镜的概念并予实验实现[3] [ 1 ]  Engstrom R C. Anal. Chem. [J ] ,1984 ,56 (6) :890. [ 2 ]  Engstrom R C , Weber M , Wunder D J , Burgess R , Winquist S. Anal. Chem. [J ] ,1986 ,58 (4) :844. [ 3 ]  Liu H Y, Fan F F , Lin C W , Bard A J . J . Am. Chem. Soc. [J ] ,1986 ,108 (13) :3838. SECM 简介 它是把一支能够做三维移动的超微电极(UME)作为探头 插入电解质溶液中,在离固相基底表面很近的位置进行扫描。 可用于研究:导体和绝缘体基底表面的几何形貌;固/液、液/液界面的氧化还原活性;分辨不均匀电极表面的电化学活性;研究微区电化学动力学、研究生物过程及对材料进行微加工。 SECM理论,为该领域的后续研究奠定了基础。 分辨率(取决于探针尺寸和离基底的距离)介于普通光学显微镜和扫描隧道显微镜之间。 研究现状 SECM最初被用于电极与电解质间界面的研究。如:探测表面形貌图, 对材料进行微加工,进行电化学动力学研究。而最后一项又包括探测电 极的反应活性图 ,异相电子转移动力学,半导体的氧化还原过程,聚合 物修饰电极形成过程的研究等。 SECM用于电化学腐蚀现象的研究。 SECM用于绝缘体的吸附/脱附现象和溶解过程的研究。 随着SECM研究的深入,它所研究的界面和过程的种类也大大增加,如 液/液界面,液/气界面,液/固界面以及重要的生物过程。 在过去的十多年中,SECM得到了迅速发展,现在它已经发展成为一个 较成熟的技术,据Wipf在2004年初的统计,已经有800多篇关于SECM 的文章发表。并有相当数量的有关SECM在电化学测量,表面,界面的 表征,微区加工及快速反应动力学等方面的综述发表,Bard也在书中对 SECM进行了详细叙述。 实验装置 电化学部分 探头(超微电极和微、纳米管等),固定在由三维马达控制 的爬行器上,使探头在基底上方沿X、Y、Z轴各方向精确移动。 基底 固定在电解池的底部,可以是各种材料的电极,也可以是固定有生物物质或细胞的绝缘基底。爬行器及固定电解池的载物台都放置于一个稳固的平台上,以减小震动所引起 的噪音和误差。 双恒电位仪 可控制探头和基底的电位。计算机通过位置控 制器来控制XYZ三维爬行器在基底上方移动。同时,由电化 学分析仪测定探头上的信号变化而得到基底的三维图像。美 国CH仪器公司已推出了商品化的SECM仪器—CHI900。 工作模式与原理 操作模式 工作原理 操作模式 SECM是以电化学原理为基础的一种扫描探针新技术,有多种不同的操作模式 反馈模式 Feedback Mode(SECM实验中最常用) 收集模式 Generation/collection Mode 穿透模式 Penetration Mode 离子转移反馈模式 Ion transfer Mode 平衡扰动模式 Equilibrium perturbation Mode 电位测定模式Potentiometric detect Mode 反馈模式 SECM探头插入到含有电活性中介体(以还原型介质R)溶液中,样品固定在基底上,探头上所加的电位足够正时,R在探头上发生氧化反应。 R

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