膜表征方法简介课件.pptVIP

* 膜表征方法简介 姓名：王栋 专业：化学工程  膜表面和断面结构：电子显微镜，原子力显微镜 孔径和孔径分布：泡压法，滤速法，压汞法，干湿膜空气滤速法，电子显微镜观测法 截留率：溶质截留率测定法（用于UF） 孔隙率：干、湿膜质量差法 脱盐率、水通量、膜的压密性（用于RO） 膜的亲水性和疏水性：测定接触角法 膜的荷电性：交换容量C，膜电阻Rm，膜电位Em 膜结构与性能的表征方法 电子显微镜法 电子显微镜是用于膜表征的一种设备，可以分成两种：扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM）。对于研究和表征微滤膜的多孔结构，可以对膜的表面和横断面进行观察。 简单电子显微镜的分辨率为0.01μm(10nm)，更高级电子显微镜的分辨率可达5nm左右（微滤膜的孔径为0.1~10μm）。 扫描电子显微镜是用于表征微滤膜的简单而有效的仪器。对表层、横断面和底层可得到清晰又简洁的图象。 原理：一束动能为1-25V的入射电子（又称为一次电子）撞击在膜试样上，从试样表面原子中撞击出二次电子，这些二次电子在检测器的屏幕上形成一定的图象。为避免试样被烧坏，可在表面上覆盖一层导电层防止表面带电，通常 用金制薄层，即喷金。 扫描电子显微镜原理示意图 SEM法观察到的聚醚酰胺膜的表层 （放大倍数3000） 不对称聚砜超滤膜横截面 泡压法 泡压法是测定微孔滤膜最大孔径和平均孔径法方法。这种方法