DMTBF 課件.ppt

DMTBF test 有關DMTBF 的一些定義和理解 DMTBF(Demonstration Mean Time Between Failures)為產品的平均壽命論証測試﹐試驗耗時較久,且需投入大量的金錢,而產品可靠度資訊又不能及時獲得並加以改善﹐因此主要采用加速壽命測試(Accelerated Life Testing)的方法﹐在物理與時間上,加速產品的劣化,以較短的時間來推定產品在正常使用狀態的壽命或失效率.但基本條件是不能破壞原有設計特性. 加速壽命測試 一般情況下, 加速壽命試驗考慮的三個要素是環境應力,試驗樣本數和試驗時間,一般電子和資訊業的零件可靠度模式及加速模式幾乎都可以從相關文獻查得,也可自行試驗分析,獲得其數學經驗公式. 如果溫度是產品唯一的加速因素,則可採用阿氏模型(Arrhenius Model),此模式最為常用. 引進溫度以外的應力,如濕度,電壓,機械應力等,則為愛玲模型(Eyring Model).產品包括電燈,液晶顯示元件適用此模式. 通常情況下,主動電子零件完全適用阿氏模型,而電子和資訊類成品也可適用阿氏模型,原因是成品類的失效模式是由大部分主動式電子零件所構成.因此,阿氏模型廣泛應用於電子,資訊行業. 對于一般客戶﹐Liteon 都采用阿氏模型. 阿氏模型反應方程式 R 為反應速度 A 為溫度常數 EA 為活化能(eV) T 為絕對溫度(Kelvin) K 為Boltzmann常數,等於8.623*10-5 eV/K. 阿氏模型中的加速因子 加速因子AF即為產品在使用條件下的壽命和高測試應力條件下的壽命的比值.在阿氏模型中﹕ 也就是說﹐若100pcs机台在加速因子為5的條件下測試﹐如果机台的規格是150K hrs﹐那么需要測試的時間為150,000/(100*5)=300 hrs=12.5 days AFtemp=Exp((Ea/K)(1/Tspec-1/Telev)) AFpower=60 minutes/(Tpower on + Tpower off ) B=Ea/K Vu(Tspec)為使用條件下的絕對溫度 Va(Telev)為加速條件下的絕對溫度 Tpower on, Tpower off 通常以分鐘為單位 活化能Ea的取值 活化能是分子與化學或物理作用中需具備的能量,單位是電子伏特Ev. 當試驗的溫度與使用溫度差距範圍不大時,則Ea設為常數。 Ea= K* (Inλa – Inλn)/(1/Tn-1/Ta) Tn,Ta均為絕對溫度 λa為加速溫度時的失效率 λn為正常溫度時的失效率 （λa和λn可以以試驗的方式的得出,但需要較長的試驗 時間.而且新機種的失效率很難在短時間內得出.） 一般電子產品在早夭期失效之Ea為0.2~0.6eV,正常有用期失效之Ea趨近於1.0eV;衰老期失效之Ea大於1.0eV. 根據HPQ 可靠度工程部(CRE)的測試規範,Ea是機台所有零件Ea的平均值.如果新機種的Ea無法計算,可以將Ea設為0.67eV,做常數處理. 目前,Dell的Ea設為0.6eV.其他机种一般定為0.67eV. 以下取值作為參考 Transformers ?????????????0.5????? 1?? 0.5?Resistors?????????????????? ?0.56 63? 35.28?R-Pacs???????????????????????0.56? 3? 1.68?Inductors????????????????????0.56? 2? 1.12?Capacitors????????????????? 0.6? 30 18?Linear Modules????????? 0.7? 9? 6.3?Diodes?????????????????????? 1? 14? 14?Transistors?????????????????1? 10? 10???? 共计:???????????????????? 132? ? 86.8 Ea～86.8/132=0