Tracepro镜头杂散光分析优势.ppt

讯技光电科技（上海）有限公司 TracePro镜头杂散光分析优势 业务代表：angie@ 技术支持：support@.tw 镜头杂散光分析 TracePro可以处理哪些杂散光 TracePro如何建立镜头模型 如何描述散射模型 杂散光分析 TracePro可以处理哪些杂散光 杂散光简单的说就是不需要的光线 TracePro可以处理的杂散光 Ghost：一定在透镜表面反射偶数次 一次散射光：光源直接照射到系统的光学组件时产生 Straight shot：光源直射进观察面 多次散射光线：光原先照射在档光板上再散射至光学组件 边缘绕射（Edge diffraction）：孔径大小对波长比值相对小时，视场外的光也会通过A.S.到达成像面 红外系统中的自体辐射：由仪器本身的辐射热产 轻松建立模型 利用OSLO，ZEMAX，CodeV等软件设计好镜头可直接转入TracePro中，其中包含了材料的转换。 以SolidWorks或是Pro/E或其它CAD软件建立好机构模型，再以TracePro轻松开启。（也可利用Solidworks bridge直接在Solidworks中设置模拟） 如何描述散射模型 TracePro可建立各种完整的散射模型 材料库中选择 软件中自行建立散射ABg模型 BSDF模型 Reflet量测BSDF值转入TracePro（独家提供） 杂散光分析 Display selected rays可利用鼠标在观察面上直接框选有问题的亮点，TracePro会直接显示造成此亮点的光路 TracePro独创功能 Ray Sorting 可依据选择面、能量、散射状况直接筛选欲分析光线 Sort ray path 将到达观察面的光线作分类，可轻松判断并找出在那个面上产生杂散光 Ray HistoryFlux report 统计所有光线或是特定光线（可自选）所有数据，包含光线自光源射出后至每个面的坐标位置、能量、方向以及经过哪些表面等数据数据。并计算每个面所接收到的能量、损失的能量或是吸收的能量等数据。 BitMap Source分析 可利用BMP或JPG图档转换为TracePro的光源，仿真实际图像经过镜头后之成像效果 * 以鼠标框选有问题之光线 光路立即显示于此 鬼像由这两个面造成 * * * * *